Gebraucht KLA / TENCOR P10 #293821173 zu verkaufen

KLA/TENCOR P10 ist eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die Silizium-Geräteherstellern helfen soll, den Geräteertrag zu verbessern, die Herstellungskosten zu senken und die Markteinführungszeit zu beschleunigen. Es bietet sowohl optische als auch elektrische Wafer-Inspektionsmöglichkeiten und ist für den Einsatz in einer Vielzahl von Produktions- und Technologieentwicklungsumgebungen konzipiert. Das KLA P-10 System bietet signifikante Leistungssteigerungen in Bezug auf Verarbeitungsgeschwindigkeit, Genauigkeit und Gesamtgröße der Einheit. Es nutzt innovative, hochmoderne optische Messtechniken und fortschrittliche Optik. Die Maschine enthält einen proprietären, Hochgeschwindigkeits-Embedded-Prozessor, der mehrere Aufgaben gleichzeitig bewältigen kann und eine schnellere Bildverarbeitung und Datenanalyse ermöglicht. Das Werkzeug kann bis zu 4.500 Wafer pro Stunde bearbeiten (wph). Neben seiner hohen Durchsatzleistung bietet TENCOR P 10 Asset eine breite Palette von Messfunktionen. Dazu gehören die Leistungsfähigkeit der Transistorpegelabbildung, die Fehlerinspektion auf der Matrize, die Erkennung von Mikrofadenfehlern, 2D- und 3D-Overlay-Messungen, die doppelte Strukturierung und Resistgradierung, die Analyse der Schichtdicke und die Messung kritischer Abmessungen. Darüber hinaus unterstützt TENCOR P-10 Modell parallele optische, elektrische und mechanische Inspektionen, die ein rauscharmes Signal, schnellere Messungen und eine größere Bandbreite an erkannten Fehlern ermöglichen. KLA/TENCOR P-10 verfügt zudem über eine hochflexible Ausstattungsschnittstelle. Die offene Architektur ermöglicht eine einfache Anbindung an eine Vielzahl führender Wafer-Test- und Messtechnik-Systeme. Die umfangreiche Softwarebibliothek bietet Kunden die vollständige Kontrolle über Parameter, Reporting und Prozesssteuerung. Das System bietet auch vorkonfigurierte, benutzerfreundliche Softwarepakete, die speziell für eine Reihe von Standard-IC-Analysen entwickelt wurden, sodass Benutzer schnell und einfach individuelle Rezepte erstellen können. Darüber hinaus umfasst KLA P10 erweiterte Datenvisualisierungs- und Hochrechnungsfunktionen. Seine grafischen Anzeigen und Schnittstellen bieten einen umfassenden Überblick über Wafer-Fehlerdaten. Mit seinen Algorithmen für maschinelles Lernen können Anwender Probleme schnell erkennen und wertvolle Erkenntnisse aus Waferdaten extrahieren. Insgesamt ist die P 10 Wafer-Prüf- und Messtechnik eine fortschrittliche Technologie, die den Herstellern von Silizium-Geräten erhebliche Vorteile bieten kann. Sein umfassendes und flexibles Design ermöglicht es Herstellern, den Ertrag zu steigern, Kosten zu senken und die Markteinführungszeit zu beschleunigen.