Gebraucht KLA / TENCOR P10 #9293513 zu verkaufen

KLA/TENCOR P10 ist eine fortschrittliche Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die die Erkennung mikroskopischer Testfehler ermöglicht. Es bietet schnelle, genaue und zuverlässige Messungen der physikalischen Wafereigenschaften. Das System vereint die neuesten berührungslosen und optischen Messtechnologien. Es wurde entwickelt, um fortschrittliche Waferprozess- und Messanforderungen wie die Herstellung von Halbleiterbauelementen, die Mikroelektronik und die Verarbeitung optischer Materialien zu erfüllen. KLA P-10 Einheit bietet vier Ebenen von hoher Genauigkeit und Präzisionsmessungen. Es verfügt über eine zuverlässige und präzise Musterschnittstelle, die bei der genauen Abbildung von Testfehlern hilft. Die Maschine bietet auch eine Hochgeschwindigkeits-automatisierte Bewegungssteuerung, die innerhalb weniger Nanometer genau ist. Es vereint eine Vielzahl von Lichtquellen, komplexe Ausrichtungssysteme, Objektive, Spiegel und Kameras. Auf diese Weise lässt sich über ein breites Spektrum von Prüfeigenschaften wie Oberflächenprofile, Linienbreiten und Ober-/Unterflächenfehler exakt messen. Für die optische Messung verwendet das TENCOR P 10-Tool eine Vielzahl von Bildgebungs- und Scantechniken, einschließlich Stereomikroskopie, Polarimetrie und Spiegelprofilometrie. Diese Techniken verwenden anspruchsvolle Geräte, um Detailbilder der Waferoberfläche zu erzeugen. Die Anlage ist auch mit einer hochpräzisen motorisierten Drehstufe ausgestattet, die es hilft, Oberflächen in ausgewählten Winkeln genau zu messen. KLA P 10 Modell kann für eine breite Palette von Wafer-Tests und messtechnischen Anwendungen verwendet werden. Dazu gehören Fehleranalyse, Charakterisierung integrierter Schaltungen, Ausrichtung der Überlagerung von ICs und Charakterisierung optischer Sensorsysteme. Darüber hinaus bietet das Gerät eine hochauflösende digitale Bildgebung mit einem hochgenauen Signal-Rausch-Verhältnis, was sehr nützlich ist, um die feine Oberfläche und die Details des Wafers zu überprüfen. Dies hilft bei der Erkennung und Analyse winziger Defekte sowie der Abbildung von Testmustern. Insgesamt ist das P 10 Wafer-Prüf- und Messsystem ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug zur genauen Erkennung von Testfehlern und Messung der physikalischen Eigenschaften von Wafern. Es kombiniert die neuesten Technologien mit hoher Genauigkeit und Präzision, um qualitativ hochwertige Ergebnisse zu gewährleisten.