Gebraucht KLA / TENCOR P11 #293593192 zu verkaufen

KLA/TENCOR P11 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Messung der physikalischen und elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben. Das System ermöglicht es dem Bediener, umfassende Daten zur Funktionsgeometrie, optischen Eigenschaften und elektrischen Eigenschaften schnell und genau zu erfassen. KLA P-11 verfügt über fortschrittliche Positionierungs- und Verstärkertechnologien, die eine präzise Messung über mehrere Chips hinweg ermöglichen. In Bezug auf physikalische Merkmale nutzt TENCOR P 11 traditionelle interferometrische Bildgebungstechniken, die eine präzise geometrische Charakterisierung von Merkmalen auf dem Wafer gegenüber einer Vielzahl von Parametern ermöglichen. Hochauflösende Bildgebung und präzise Fokussierung ermöglichen präzise 3-dimensionale Messungen. Durch modernste Videomikroskopietechniken sind Anwender auch in der Lage, Auffälligkeiten oder Defekte auf dem Wafer zu erkennen und zu isolieren. Das Gerät ermöglicht eine 10-Mikron-Messauflösung und ermöglicht eine genaue Messtechnik in einer Vielzahl von Proben. Hinsichtlich der elektrischen Charakterisierung ist TENCOR P11 mit einer Vielzahl von Geräten wie Sonden, reflektierenden Sonden, Strahldetektoren und Spannungskontrastmikroskopen ausgestattet. Diese erfassen und messen elektrische Eigenschaften auf Chipebene, einschließlich der Betriebsleistung und Frequenz der Schaltungen, der Leistung von Geräten und der Funktionalität von Transistoren. P11 ermöglicht auch eine genaue elektrische Prüfung von Geräten, einschließlich Widerstandsmessung und Stromleckage. Automatische Kalibrierung und selbstlernende Algorithmen ermöglichen eine verbesserte Genauigkeit und Wiederholbarkeit. P 11 bietet erweiterte Automatisierungsfunktionen, um menschliche Fehler zu reduzieren, den Durchsatz zu verbessern und große Chargen von Wafern effizient zu verarbeiten. Durch seine leistungsstarke Analytik kann KLA P11 viele Wafer auf einmal verarbeiten, sodass Hersteller Ausreißer oder potenzielle Belastungen schnell identifizieren können. Umfassende Datenerfassungs- und Wafer-Registrierungsfunktionen ermöglichen es KLA P 11, Daten zu speichern und schnell zu analysieren, um Berichte zu erstellen. P-11 ist ein leistungsfähiges Werkzeug für fortgeschrittene Tests und Messtechnik von Halbleiterscheiben. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden und elektrischen Charakterisierungsfähigkeiten kann die Maschine Proben schnell und genau analysieren, was verbesserte Erträge und hochwertige Geräte ermöglicht.