Gebraucht KLA / TENCOR P11 #293661312 zu verkaufen

KLA / TENCOR P11
ID: 293661312
Surface profiler P/N: 401226 Power supply: 100 V, 4 A.
KLA/TENCOR P11 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Verbesserung der Wafer-Testerfahrung in der Halbleiterherstellung. Dieses Instrument kombiniert die Spitzentechnologie seines Vorgängers P10 mit den fortschrittlichen Fähigkeiten seines größeren P15 Systems. Es ermöglicht eine einzelne Einheit, um eine Reihe von Wafern von 6 „bis 12“ unterzubringen, während überlegene FTIR (Fourier Transform Infrarot) Analyse und High-Fidelity-Signal-Erfassung. Seine hohe Genauigkeit, Durchsatz und Benutzerfreundlichkeit machen es zu einem leistungsfähigen Werkzeug für Wafer-Level-Test und messtechnische Anwendungen. KLA P-11 implementiert seine bahnbrechende Photodioden-Array (PDA) -Technologie, um Daten von bis zu vierundvierzig Photodiodenstandorten in einer einzigen Vollwafermessung zu erfassen und zu verdauen. Jede Photodiode in diesem Array ist individuell konfiguriert, um Signale mit maximaler Treue und Genauigkeit zu erfassen. Dieses Ergebnis ist eine umfassende Messung mit relativer und absoluter Datenkorrelation über mehrere Standorte hinweg, die eine überlegene Genauigkeit und weniger Testiterationen bietet. Die FTIR-Fähigkeiten des TENCOR P 11 in Verbindung mit seiner PDA-Technologie können selbst subtile Variationen in Teststrukturen und Leistungsparametern erkennen. So können hochpräzise Daten für komplexe Signal- und Rauschanalysen sowohl in manuellen als auch in automatisierten Test-/Messtechnik-Szenarien gewonnen werden. Prozessleitsysteme sind auch mit KLA/TENCOR P 11 verfügbar, um eine bessere Kontrolle über Wafer-Testsequenzen und Timing zu ermöglichen. Dies gewährleistet eine flexible, hochpräzise Ausführung von Wafer-Prüfvorgängen, die durch den Programmsatz Instrument control language (ICL) ermöglicht werden. Um die Leistung und Genauigkeit der KLA/TENCOR- P-11 zu erhöhen und die Genauigkeit im Laufe der Zeit zu erhalten, werden proprietäre optische Techniken verwendet, um die Hardwarevariabilität zu kompensieren. Autonome Überwachung und Steuerung ermöglichen auch eine dynamische Anpassung optischer Parameter, um hochgenaue Antworten für eine Reihe von verschiedenen Tests aufrechtzuerhalten. Die verbesserte Verarbeitung und die erweiterte Optik von P11 bieten dem Benutzer erweiterte Datenerfassung, präzise Wellenformmessungen, Echtzeit-Signalanalyse und eine Reihe weiterer Funktionen. Insgesamt bietet die Maschine überlegene Datengenauigkeit, schnelle Messzeiten und betriebliche Effizienz für Test- und Messtechnik-Anwendungen und ist damit eine ideale Wahl für die anspruchsvollsten Halbleiterherstellungsoperationen.
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