Gebraucht KLA / TENCOR P11 #293662985 zu verkaufen

KLA/TENCOR P11 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für die Analyse der hohen Ausbeute und die Überwachung der FAB-Prozesse konzipiert ist. Das System verwendet fortgeschrittene bildgebende Analysetechniken, um Wafer zu inspizieren, mit dem Ziel, minimale Defekte zu gewährleisten. Es ist mit werkzeugspezifischen optischen und messtechnischen Komponenten ausgestattet, die für die Bildgebung, Charakterisierung und Fehlerüberprüfung optimiert sind. Mit seinen 2X optischen und 6X Messtechnik-Systemen ist KLA P-11 ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug für eine Vielzahl von Waferinspektionsanwendungen. TENCOR P 11 verfügt über eine robuste und starre Portalstruktur zur Unterstützung großer Standortdichte. Seine hochzuverlässigen Abbildungssysteme sind in der Lage, eine schnelle, fehlerfreie Waferinspektion bei einer Zykluszeit von ca. 15 Sekunden zu ermöglichen. Mit seinen verbesserten Bildgebungssystemen nutzt KLA/TENCOR P-11 fortschrittliche Algorithmen, um subtile Fehler zu erkennen, die von herkömmlichen Systemen möglicherweise nicht erkannt werden. Darüber hinaus bietet TENCOR P-11 erweiterte Overlay-, Mustermaskierungs- und Flimmerbildfunktionen zur optimierten Fehlererkennung. P-11 enthält auch mehrere fortschrittliche Metrologie-Komponenten, einschließlich einer proprietären AFM (Atomic Force Microscopy) -Einheit mit ultrahoher lateraler Registrierung zur Messung der Wafertopologie mit einer unübertroffenen Genauigkeit. Die Hochleistungs-Messtechnik von KLA/TENCOR P 11 wird durch die patentierte Multi-Layer Contour Analysis Technologie für eine hochgenaue Messung kritischer Dimensionen (CD) weiter verbessert. Schließlich enthält P11 eine automatisierte Fehlerprüfstation, die fortschrittliche 3D-Fehlererkennungsalgorithmen verwendet, um bei der Überprüfung und Nachbearbeitung von Waferinspektionsdaten zu unterstützen. Insgesamt ist TENCOR P11 ein leistungsfähiges und vielseitiges Wafer-Test- und Messtechnik-Tool, das mit fortschrittlichen bildgebenden Analysetechniken, Messtechnikkomponenten und automatisierten Fehlerüberprüfungsfunktionen ausgestattet ist. Es ist sehr zuverlässig und liefert genaue und schnelle Inspektionsergebnisse bei einer Zykluszeit von 15 Sekunden. Mit seiner Fähigkeit, subtile Fehler zu erkennen, die Wafertopologie mit unübertroffener Genauigkeit zu messen und die Fehlerüberprüfung zu automatisieren, ist P 11 ein ideales Werkzeug, um hohe Produktionserträge und eine genaue Prozessüberwachung in der Halbleiterindustrie zu erzielen.