Gebraucht KLA / TENCOR P11 #293674887 zu verkaufen

KLA/TENCOR P11 Wafer-Prüf- und Messtechnik ist eine hochpräzise Wafer-Prüfstufe, die mit dem Ziel entwickelt wurde, eine effiziente und genaue Wafer-Fehleranalyse bereitzustellen. Dieses System ist eine automatisierungsintegrierte Inspektionsplattform, die optische Bildgebung und Messung nutzt, um Weitfeldbilder der Waferoberfläche zu erfassen. Diese Bilder werden dann mit modernsten Bildgebungs- und Charakterisierungstechniken analysiert, um das Wafermaterial auf mikroskopischer Ebene zu untersuchen. KLA P-11 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit besteht aus einer robusten, langlebigen Oberflächenstufe, die Präzisionsoptiken zur Beleuchtung, Vergrößerung und Steuerung des Wafers enthält. Diese fortschrittliche Abbildungsoptik erhöht die Auflösung und das Signal-Rausch-Verhältnis der Bilder weiter. Darüber hinaus ist die Oberflächenstufe hochmodular aufgebaut und kann in bestehende Inspektionsumgebungen integriert werden. Darüber hinaus umfasst TENCOR P 11 intuitive Datenverarbeitungsalgorithmen und fab-spezifische Ziele für eine schnelle und zuverlässige Analyse der Proben. Die Maschine verwendet reflektierende Bildgebung und streuende optische Mikroskopie zur Fehlererkennung, mit intuitiver Überprüfung und Meldung von Fehlerdaten. Die Datenverarbeitungsalgorithmen ermöglichen die Analyse von Nanopartikeldefekten auf Waferebene. Darüber hinaus bietet P11 auch verschiedene Funktionalitäten wie Linien- und Kantenprofilierung. Diese Funktionalitäten unterstützen das Vorhandensein und die Größe von Defekten durch Messung ihrer Helligkeit und ihres Kontrastes. Das Tool verfügt auch über Bildverbesserungsfunktionen, die es ermöglichen, Tiefendetails und Kanten innerhalb der zu analysierenden Materialien zu beobachten. Darüber hinaus bietet P-11 Wafer-Test- und Messtechnik-Asset Software-Unterstützung für eine Reihe von Betriebsplattformen. Dazu gehören Software zur Datenaufzeichnung/-wiedergabe, Bildverarbeitung und optischen Simulation. Es kommt auch mit einer Bibliothek von Bildgebungs- und Messfunktionen vorinstalliert, und hat die Fähigkeit, andere Analyse-Software zu integrieren. Schließlich verfügt KLA/TENCOR P-11 über ein integriertes industrielles Bewegungssteuermodell, das Waferausrichtung, Scangeschwindigkeit und Genauigkeit verbessert. Dies gibt Benutzern die Möglichkeit, hochauflösende Beispielkarten mit verbesserten Bildmessungen zu erzeugen. Insgesamt ist KLA P 11 Wafer-Prüf- und Messtechnik eine zuverlässige und qualitätsgetriebene Lösung für die Fehleranalyse hochauflösender Proben. Mit intuitiven Datenverarbeitungsalgorithmen und fab-spezifischen Zielen ermöglicht KLA/TENCOR P 11 Anwendern eine effiziente und genaue Fehlererkennung im mikroskopisch kleinen Maßstab. Die fortschrittliche Abbildungsoptik verbessert die Auflösung der Bilder weiter und das integrierte Bewegungssteuerungssystem verbessert die Abtastgeschwindigkeit und -genauigkeit. Mit der Kombination aus intuitiven Funktionen, Software-Support und integrierten Systemen bietet die KLA P11 eine zuverlässige und leistungsstarke Plattform für die Waferanalyse.