Gebraucht KLA / TENCOR P11 #293753932 zu verkaufen

KLA / TENCOR P11
ID: 293753932
Surface profiler.
KLA/TENCOR P11 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für zuverlässige und durchsatzstarke Tests und Diagnosen von Wafern entwickelt wurde. Dieses System ist in der Lage, verschiedene Waferformate wie Si, SOI, GaN und GaAs zu testen und zu diagnostizieren. Diese Einheit wird verwendet, um die Schaltungsleistung von Fertigungsproben zu überprüfen, Fehler zu erkennen und Ertragsprobleme zu analysieren. KLA P-11 Maschine ist mit Wafer-Handling ausgestattet, basierend auf der AWM-Methodik (Automated Wafer Mapping). Dieses automatisierte Mapping-Tool ermöglicht es dem Bediener, ein ganzes Wafer-Array in nur 8 Sekunden ohne manuellen Eingriff von einem Wafer-Steckplatz zum nächsten zu platzieren. Dieses Asset bietet zudem eine verbesserte Genauigkeit mit präziser Waferplatzierung und automatisierter Fokuskompensation für die Abbildung von 3D-Funktionen. Das Modell ist mit scharfer Optik, Hochgeschwindigkeitssensoren und präzisen laserbasierten Messtechnik-Systemen zur Bewertung umfassender Fehlerdaten ausgestattet. Diese Ausrüstung ist für hohe Produktionsausbeute Tests konzipiert, die schnelle, zuverlässige und genaue Fehlerinspektion, Analyse und Charakterisierung. Das optische Mikroskopdesign und die verbesserten Beleuchtungssysteme des Systems sorgen für mehr Klarheit und Detail von Waferdefekten bei höherer Auflösung. Zusätzlich zu seinen Wafer-Testfunktionen umfasst TENCOR P 11 erweiterte Software-Tools zur Analyse und Trenddaten. Es enthält auch eine Fehlerprüfstation, die es dem Bediener ermöglicht, Fehlerkarten und Bilder zu überprüfen, so dass sie Fehler schnell erkennen, charakterisieren und priorisieren können. KLA P 11 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine ist eine ideale Lösung für kostengünstige und zuverlässige Prüfung und Diagnose von Wafern bei hohen Geschwindigkeiten bei hoher Prozessausbeute und zuverlässigen Ergebnissen. Das automatisierte Mapping-Tool, präzise laserbasierte Messtechnik-Systeme, fortschrittliche Software-Tools und Fehlerprüfstationen bieten höchste Zuverlässigkeit und Leistung für alle Ihre Anforderungen an Wafertests und Messtechnik.
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