Gebraucht KLA / TENCOR P11 #9086448 zu verkaufen

KLA/TENCOR P11 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein hochwertiges automatisiertes Inspektions- und Messtechnikwerkzeug. Es ist ein integriertes System, das eine 5-Megapixel-Farb-CCD-Kamera, eine Reihe leistungsstarker Algorithmen, einen automatisierten Scanner und eine vollständige Suite von Messsoftware kombiniert und eine umfassende Lösung für Wafer-Sondierung und Messtechnik bietet. Das Gerät ist darauf ausgelegt, sowohl Wafer- als auch Düsenpegelmessungen schnell und präzise durchzuführen. Die Kamera der Maschine verwendet einen CCD-Bildsensor mit einer 5-Megapixel-Auflösung mit einer Vollfarbvideoausgabe. Die Bildaufnahmefähigkeit der Kamera erfasst sowohl Wafer- als auch Gesenkbilder sowie die Auswahl variabler Belichtungszeiten und Blendengrößen für eine optimale Auflösung. Der automatisierte Scanner ist für maximalen Durchsatz mit Präzisionsbewegungsstufen ausgelegt und ermöglicht die Datenübertragung zum bildgebenden Werkzeug mit Geschwindigkeiten von bis zu 4MHz. Darüber hinaus wird eine Reihe fortgeschrittener Bildverarbeitungsalgorithmen verwendet, die sowohl bildgebende als auch nichtbildgebende Techniken verwenden, um kritische Lithographie, Prozess, Topographie und andere kritische Eigenschaften genau zu messen und zu identifizieren. KLA P-11 Wafer Testing and Metrology Asset nutzt eine komplette Suite kundenspezifischer Messsoftware, um eine umfassende Lösung für kritische Wafereigenschaften bereitzustellen. Die Software ermöglicht eine vollständige Unabhängigkeit der Infrastruktur der Kunden sowie eine erweiterte Bildanalyse, Datenprotokollierung und eine Vielzahl von Anpassungsoptionen. Die Software bietet eine breite Palette von Messfunktionen, die Messungen über verschiedene Geräteschichten, Formgrößen, Wafer-Positionen, Merkmalsgrößen und -formen, Parallelität, Strahlabbildung und Durchfokusanalyse umfassen. Die Anwendung ist auch in der Lage, große Ansichtsfelder in einem einzigen Schuss zu analysieren, was die Datenerfassungszeiten reduziert. TENCOR P 11 Wafer Testing and Metrology Model ist für die Integration in Halbleiterfertigungslinien und -prozesse konzipiert und erfordert keine proprietäre Ausrüstung. Robuste Instrumentierung, überlegene Leistung, automatisierte Prozesse und ausgefeilte Algorithmen werden kombiniert, um eine genaue und wiederholbare Produktionsüberwachungsausrüstung zu liefern. Das System ist in der Lage, kontinuierlich in einer Vielzahl von Temperaturen und Feuchtigkeitsstufen zu arbeiten und bietet überlegene Zuverlässigkeit über verschiedene Fertigungsprozesse hinweg. Abschließend ist die P11 Wafer Testing and Metrology Unit eine umfassende und zuverlässige Maschine, die für die hochwertige automatisierte Inspektion und Messtechnik entwickelt wurde. Das Tool integriert eine leistungsstarke 5-Megapixel-Kamera, einen automatisierten Scanner und eine Reihe von Messsoftware, um überlegene Messfunktionen für eine Vielzahl von Prozessen und Anwendungen bereitzustellen. Die ausgeklügelten Algorithmen der Anlage liefern genaue, wiederholbare und zuverlässige Ergebnisse, während die robusten Outdoor-Komponenten auch in extremen Umgebungen Langlebigkeit und hohe Verfügbarkeit gewährleisten.