Gebraucht KLA / TENCOR P11 #9248607 zu verkaufen

KLA / TENCOR P11
ID: 9248607
Wafergröße: 6"-8"
Surface profiler, 6"-8".
KLA/TENCOR P11 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die bei jedem Schritt der Halbleiterherstellung eine schnelle und genaue Rückkopplung der Prozesssteuerung ermöglicht. Es kombiniert die Merkmale der Fehlerinspektion, der Overlay-Messtechnik und der Fehlerüberprüfung. Das System ist kompatibel mit einer breiten Palette von Tastkarten und mit Maskenmustern, die mit branchenführenden Maskenregelprüfern kompatibel sind. KLA P-11 ist mit High Definition HD Super-Resolution-Technologie ausgestattet und bietet hervorragende Wafer-Bildgebungsfunktionen zur Verbesserung der Fehlererkennungsgenauigkeit. Das Gerät verwendet fortschrittliche Algorithmen, um Bilder von Wafern zu analysieren und Fehler zu analysieren, so dass eine genaue und zuverlässige Fehlerklassifizierung und Fehlerüberprüfung möglich ist. Dies ermöglicht eine schnelle und genaue Fehlererkennung, so dass Wafer mit sehr minutenlangen Ungleichförmigkeiten schnell und genau identifiziert werden können. TENCOR P 11 nutzt einen Multi-Sensor-Ansatz für die berührungslose Overlay-Messtechnik. Dies ermöglicht schnelle, genaue und wiederholbare Ausrichtungsmessungen zwischen der Maske und dem darunterliegenden Siliziumwafer. Durch Voxelausrichtung und Inspektion der Oberflächentopologie des darunterliegenden Siliziumwafers kann die Genauigkeit dieser Ausrichtung über mehrere Wafer und Lose aufrechterhalten werden. KLA/TENCOR P-11 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine läuft auf einer Standard-Standardrechner-Plattform. Es bietet eine intuitive Benutzeroberfläche auf dem Werkzeugbildschirm mit einem gut strukturierten Satz von Menüs und Schaltflächen, mit denen Bediener schnell auf alle Asset-Modi, Parameter und Einstellungen zugreifen können. Zusammenfassend ist P11 ein modernes Wafer-Test- und Metrologiemodell. Es bietet überlegene Wafer-Bildgebungsfunktionen für Fehlererkennungsgenauigkeit, genaue und wiederholbare Ergebnisse für berührungslose Overlay-Messtechnik und eine gut strukturierte Benutzeroberfläche, mit der Bediener den gesamten Prozess schnell und effizient verwalten können.
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