Gebraucht KLA / TENCOR P11 #9250103 zu verkaufen

KLA/TENCOR P11 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein fortschrittliches automatisiertes optisches Inspektions- und Messtechnik-System, das Echtzeit-Leistungsüberwachung und Prozesssteuerung von Wafern und Produkten ermöglicht. Durch die Verwendung eines hochauflösenden optischen Mikroskops ist KLA- P-11 in der Lage, Wafer-Merkmale, die Gleichmäßigkeit von Form zu Form genau zu analysieren und genaue Produktdicke und Overlay-Offsets zu messen. TENCOR P 11 nutzt ein 8 „oder 12“ -Zoll-Sichtfeld mit numerischer Apertur (NA) bis zu 0,18, was eine Genauigkeitsauflösung von 1 Mikron und eine schnelle Bildaufnahmerate von bis zu 8 Bildern pro Sekunde ermöglicht. Eine breite Palette von optischen Komponenten bieten umfassende Parameter und Messarten für die Anwendungsunterstützung in Produktionslinien einschließlich Geometrie- und Ätzanalyse, Dokumentenprüfung und Netzwerküberprüfung. KLA/TENCOR P 11 bietet zudem eine schnelle und zuverlässige Fehlerklassifizierung, die es Anwendern ermöglicht, große Datenmengen schnell zu analysieren und sofortige Ergebnisse mit nur einem Klick zu erhalten. Spezielle Algorithmen erkennen und klassifizieren Fehler automatisch und bieten einen zuverlässigen und wiederholbaren Prozess zur Charakterisierung, Klassifizierung und Validierung von Halbleiterscheiben und -materialien. Das Hauptmodul von P11 besteht aus Metrologie, Review & Pattern Search und der Defect Review Platform. Eine intuitive Benutzeroberfläche vereinfacht die Bedienung und eliminiert lange Rüstzeiten. Die Datenausgabe wird in einem zentralisierten Repository gespeichert, das Transparenz und Zugriff auf Echtzeit-Performance-Metriken ermöglicht und gleichzeitig den Austausch von Fehlerwissen mit der globalen Fehlerbibliothek erleichtert. TENCOR P-11 unit bietet auch Traceability & Analysis und Net/Yield Management Funktionen. Diese Maschine arbeitet mit anspruchsvollen Kapazitätssensoren, die in der Lage sind, Inspektionsergebnisse in dreidimensionalen Bildern zu visualisieren, was es perfekt für die industrielle Waferprozessüberwachung und Fehleranalyse macht. Schließlich ermöglichen die Tool Manager-Tools es Benutzern, die Vermögensleistung zu überwachen und verschiedene Tests zur Qualitätssicherung durchzuführen. KLA P 11 ist ein äußerst vielseitiges Werkzeug zur Inspektion, Überwachung und Analyse von Wafern und Produkten in heutigen Produktionslinien. Das Tool trägt dazu bei, Zuverlässigkeit und Genauigkeit des Prozesses sicherzustellen, um leistungsstarke Ergebnisse und Erträge zu gewährleisten.