Gebraucht KLA / TENCOR P11 #9375263 zu verkaufen

ID: 9375263
Weinlese: 2000
Surface profiler 2000 vintage.
KLA/TENCOR P11 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben. Das System ist ideal für Wafertests auf kleinen Wafern, dünnen Wafern und Polysiliziumsubstraten. Das Gerät ist praktisch wartungsfrei und ermöglicht längere Einsatzzeiten ohne regelmäßige Wartung. KLA P-11 verfügt über erweiterte 2D-Dosier- und Streumessverfahren, um genaue Testergebnisse zu gewährleisten. Es verwendet eine Mehrfachsonde-Dispense-Maschine mit fortschrittlichen, niederdruckpneumatischen Sonden, um eine konsistente und zuverlässige Prüfung zu gewährleisten. Das Werkzeug kann alle Komponenten des Wafers und Umfangs, einschließlich Waferbegrenzung, Kante und Fehlercharakterisierung, erkennen, messen und analysieren. TENCOR P 11 ist mit der P12 Series Process Control Asset (PCS) mit einer erweiterten, interaktiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI) integriert. Die interaktive Benutzeroberfläche ermöglicht es dem Benutzer, Chip-Testvorgänge anzupassen, abzustimmen, zu überwachen und zu steuern, einschließlich der Einrichtung und Steuerung von Kalibrier-, Test- und Berichtsfunktionen. Das PCS bietet auch Datenanalysen, um Ertrag und Leistung der Chips zu optimieren. P 11 ist in der Lage, mehrere Wafertypen zu montieren, da es mit einem multidirektionalen Wafer-Handler und einem erweiterten Wafer-Verifikationsmodell ausgestattet ist. Es ermöglicht auch das Scannen in verschiedenen Winkeln zu allen Teilen des Wafers. Die Ausrüstung kann auch konfiguriert werden, um manuelle Wafer bei Bedarf durch den Zusatz von speziellen Halterungen oder Bodenplattenhaltern aufzunehmen. Insgesamt ist KLA/TENCOR P-11 ein fortschrittliches System zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben. Es verfügt über erweiterte messtechnische Fähigkeiten, eine anpassbare GUI und eignet sich für verschiedene Wafertypen und -orientierungen. Das Gerät ermöglicht auch eine effiziente und zuverlässige Wafer-Prüfung und Chip-Performance-Optimierung für alle Stufen der Produktion.
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