Gebraucht KLA / TENCOR P11 #9381675 zu verkaufen

KLA/TENCOR P11 ist eine robuste und produktive Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine Qualitätsbewertung von Halbleiterscheiben ermöglicht. Mit fortschrittlichen Automatisierungs- und Hochdurchsatzfähigkeiten eignet es sich für den Einsatz in Entwicklungs- und Produktionsteststufen. KLA P-11 verfügt über eine sehr hohe Durchsatzstufe mit schneller und genauer Positionierung und Autofokus, was es ideal für die Messung komplexer Waferprofile macht. Es ist mit einem hochfrequenten Datenerfassungssystem ausgestattet, das eine schnellere Messung kritischer Eigenschaften wie Dicke und Fehlergröße ermöglicht. Es ist auch mit hochauflösender Infrarot (IR) -Bildgebung ausgestattet, um Oberflächenfehler zu erkennen, und es hat einen sehr schnellen Stufenauslösemechanismus, der die Zykluszeit reduziert. TENCOR P 11 wurde entwickelt, um eine hohe Genauigkeit in der Halbleiterscheibenmesstechnik und -prüfung bereitzustellen. Es verfügt über proprietäre patentierte Messtechnik und Datenerfassungstechnologie, die eine tiefgreifende Diagnose und Analyse ermöglicht. Das Gerät verfügt über hochpräzise Abtastsysteme zur genauen Erkennung dünner und dicker Folien sowie sehr kleiner Defekte. Es verfügt auch über erweiterte Bildverarbeitungsalgorithmen, die das schnelle Erkennen, Kategorisieren, Sortieren und Drucken von kritischen Fehlern wie Partikeln, Hohlräumen und Delamination ermöglichen. Darüber hinaus bietet P 11 eine Reihe von Fehleranalysefähigkeiten und Datenanalyse-Tools, die eine genaue Vorhersage von Ertragstrends und Fehleranalysen ermöglichen. P-11 unterstützt die automatische Mustererkennung und ermöglicht so die schnelle Erkennung und Verarbeitung von Merkmalsbildern mit unterschiedlichen Formen und Größen. Mit seinen fortschrittlichen optischen Systemen und proprietären Softwaretechnologien ist es in der Lage, eine Vielzahl verschiedener Wafermessungen wie Profilhöhe, Kantenzug, Ätztiefe, Resistdicke, Topographie, Kristalldefekte, Dünnschichtabscheidung und Diffusionstiefe über eine Reihe verschiedener Materialien durchzuführen. Das KLA/TENCOR P 11-Tool bietet auch eine Echtzeit-berührungslose Überwachung der Produktionsstufen und warnt die Betreiber in Echtzeit vor potenziellen Problemen mit der Produktqualität und ermöglicht proaktive Korrekturmaßnahmen, um kostspielige Produktionsverzögerungen zu vermeiden. Darüber hinaus umfasst das Asset eine vielseitige Steuerungsschnittstelle, die einen effizienten und effektiven Betrieb durch nicht-fachkundige Betreiber ermöglicht. Insgesamt ist KLA/TENCOR P-11 ein fortschrittliches, zuverlässiges und durchsatzstarkes Wafer-Test- und Messtechnikmodell, das entwickelt wurde, um präzise und genaue Messungen von Halbleiterscheiben bereitzustellen. Mit seinen fortschrittlichen optischen und Softwaretechnologien, den präzisen Fehleranalysefunktionen und der vielseitigen Steuerungsschnittstelle ist TENCOR P-11 eine ideale Wahl für Produktionsumgebungen in Großserien.