Gebraucht KLA / TENCOR P11 #9397724 zu verkaufen

KLA/TENCOR P11 Wafer Testing and Metrology Equipment wurde entwickelt, um hochpräzise Messungen von Wafereigenschaften wie Oberflächentopographie, Merkmalsgrößen und Defekteigenschaften zu ermöglichen. KLA P-11 ist mit mehreren optischen und elektrischen Sonden und Submikron-Auflösung motorisierte Scantechnologie ausgestattet, um eine breite Palette von Wafersubstraten genau zu analysieren. Diese Messungen ermöglichen es Ingenieuren und Wissenschaftlern, einzelne Strukturen in Serienumgebungen zu charakterisieren und gleichzeitig genaue Messungen von Parametern wie Oberflächengüte, Linienbreite, kritische Dimensionsgleichmäßigkeit und Fehlerverteilung zu erzielen. Das System verfügt über ein volloptisches Design, das in der Lage ist, Weitfeld- und Nanometergenauigkeitsmessungen vorzunehmen. Eine bewegliche Laserquelle beleuchtet die Waferprobe, die dann von der Oberfläche reflektiert und von einem optischen Empfänger gesammelt wird. Ein Bildverarbeitungsmodul wird dann verwendet, um die gesammelten Daten zu erfassen und für eine spätere Analyse zu speichern. Zur Analyse der gesammelten Daten verwendet TENCOR P 11 mehrere physikalische und mathematische Algorithmen. Diese Algorithmen werden verwendet, um Oberflächenkonturen zu berechnen und das Profil der Probe aufzudecken. Sie werden auch verwendet, um Oberflächenfehlereigenschaften zu betrachten und die Größe von KEs zu messen. Die Einheit enthält auch eine Reihe von Mustererkennungswerkzeugen, die die Erkennung und Extraktion von KEs wie Linienbreiten, kritische Bemaßungsgleichförmigkeit und Fehler aus der Probe ermöglichen. Neben diesen Funktionen verfügt KLA/TENCOR P 11 auch über eine ausgeklügelte Benutzeroberfläche mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche mit mehreren Touchscreen-Menüs. Manuelle und automatisierte Eingaben werden unterstützt und die Maschine ist in der Lage, Daten zu speichern und zu katalogisieren, um Datenverfolgung und Workflow-Management zu ermöglichen. Das Tool ist auch mit mehreren Sicherheitsvorkehrungen ausgestattet, um Datenintegrität zu gewährleisten und Datenverlust zu verhindern. P11 Wafer Testing and Metrology Asset ist ein leistungsfähiges Werkzeug zur Bereitstellung genauer und zuverlässiger Messungen für Wafersubstrate und ist somit ein wesentliches Werkzeug für Prozessingenieure und Wissenschaftler, die in Halbleiterproduktionsumgebungen arbeiten.