Gebraucht KLA / TENCOR P15 #293592474 zu verkaufen
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
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KLA/TENCOR P15 ist eine High-End-Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um die Wafer-Inspektionszeit zu minimieren und die Defektivität zu reduzieren. KLA P-15 System ist sowohl mit Top-Down als auch Bottom-Up Wafer Testarchitekturen konzipiert, die sowohl für die elektrische als auch optische Messtechnik verwendet werden. Es verfügt auch über eine erweiterte Optik, um eine breite Palette von messtechnischen Funktionen wie Laserinterferometrie und Photometrie zu unterstützen. Das Gerät ist mit einer High-End-Optikmaschine mit 9-Achsen-Wegnavigation, einem optischen Laserinterferometer und einer Beugungsgittereinheit ausgestattet. Dieses fortschrittliche Optik-Tool ermöglicht eine präzise Wafer-Abbildung und ermöglicht es, die planaren Konturen, Höhenunterschiede und andere Lichteigenschaften des Wafers zuverlässig und genau zu messen. Es kann auch Fehler in der Oberfläche des Wafers messen, was eine genaue Analyse und Inspektion des Zustands des Wafers ermöglicht. TENCOR P 15 Asset ist mit einer Reihe von Sensoren ausgestattet, die elektrische Eigenschaften, optische Eigenschaften und Stempeleigenschaften messen. Dies hilft bei der schnellen und genauen Wafer-Charakterisierung und Fehlerlokalisierung. Das Modell verfügt auch über eine hochgenaue Röntgen- und Wafer-Kartierungsausrüstung, die eine schnelle und genaue Fehlerlokalisierung und -klassifizierung ermöglicht, wodurch es in der Waferinspektion sehr effizient und zuverlässig ist. Das P 15-System nutzt die neueste Mustererkennungstechnologie, um Fehler, die durch die Verarbeitung verursacht werden, und Umweltfaktoren zu unterscheiden und so eine bessere Fehlerdiagnose und -prävention zu unterstützen. Das Gerät verfügt über eine integrierte „flexible Einstellung“, die eine Echtzeit-Anpassung einzelner Parameter für verschiedene Durchsatzanforderungen ermöglicht. Dies trägt dazu bei, dass die Maschine unterschiedliche Wafergrößen sowie Wafermaterialien und messtechnische Anforderungen aufnehmen kann. Insgesamt wird TENCOR P-15 Wafer-Test- und Messtechnik-Tool entwickelt und erstellt, um die Wafer-Inspektionszeit zu minimieren und die Defektivität zu reduzieren. Es ist weiterhin ein nützliches und zuverlässiges Werkzeug für die Wafer-Inspektion und Charakterisierung, da es zuverlässig, genau und hocheffizient ist.
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