Gebraucht KLA / TENCOR P15 #293645079 zu verkaufen

KLA / TENCOR P15
ID: 293645079
Surface profiler.
KLA/TENCOR P15 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die den höchsten Ertrag bei der Herstellung von Ultra-Large-Scale-Integrated (ULSI) -Systemen gewährleistet. KLA P-15 bietet eine leistungsstarke, berührungslose Waferinspektion zur schnellen und genauen Messung der geometrischen und elektrischen Parameter von Halbleiterbauelementen. TENCOR P 15 verfügt über einen pneumatischen Scanner, der den Wafer berührungslos mit extrem hoher Geschwindigkeit bewegt, so dass eine große Fläche der Waferoberfläche gleichzeitig gemessen werden kann. TENCOR P15 verwendet ein hochauflösendes Bildgebungssystem, das Bilder der Oberfläche des Wafers erfasst. Die Einheit analysiert dann die Bilder, um die Mustergenauigkeit, Gerätegröße und Platzierung sowie die allgemeine Oberflächentopographie zu messen. Es kann auch elektrische Eigenschaften wie Widerstand, Kapazität und Induktivität von Transistoren messen. Die UCK hat Spitzentechnologien in die Maschine integriert, um den bestmöglichen Ertrag zu gewährleisten. So verfügt die KLA P15 über ein hochauflösendes optisches Profilometer, das Bauteile bis zu 0,02 Mikrometer messen kann. Es zeigt auch ein Hochleistungslaserpunktgrößenverminderungswerkzeug, das genaue Untersuchung von Kleingeometrieeigenschaften berücksichtigt, ohne sie zu beschädigen. TENCOR P-15 bietet auch automatisierte Waferanalyse, die detaillierte visuelle und statistische Fehleranalysen durchführen kann. Es kann subtile Defekte wie Kratzer und Mikro-Gruben mit einer Geschwindigkeit von bis zu 14.400 Standorten pro Sekunde erkennen. Darüber hinaus kann es auf Leistungsparameter wie Prozessfähigkeit, Lötstößelhöhe und Ebenheit überprüfen. Diese Eigenschaften machen KLA/TENCOR P 15 zu einem der leistungsfähigsten und zuverlässigsten verfügbaren Systeme. Es wurde entwickelt, um die Anforderungen der strengsten Produktionsumgebungen zu erfüllen und zu übertreffen, und gibt Herstellern das Vertrauen, dass wichtige Testdaten effizient und genau gesammelt werden.
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