Gebraucht KLA / TENCOR P15 #293677300 zu verkaufen

KLA/TENCOR P15 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung ist eine fortschrittliche Maschinerie, die von Halbleiterherstellern verwendet wird und es ermöglicht, die Qualität ihrer Geräte im Produktionsprozess zu kontrollieren. Dieses System führt optische Inspektionen, Fehlerklassifizierung, Fehler- und Rauheitsmessungen und Materialcharakterisierung auf Halbleiterscheiben in einem Prozess durch, der zuverlässig und effizient ist. KLA P-15 verwendet ein modernes optisches Design, um die Erkennung automatisch zu fokussieren und zu maximieren und den Scanbereich von 10 bis 200 mm zu erweitern. Dieses Gerät verwendet ein In-situ-Mikroskop und vier Bewegungsachsen, um eine hohe Genauigkeit und schnelle Bewegung über eine große Fläche zu gewährleisten. Zur Erfassung der erforderlichen Daten werden eine Vielzahl von Bilderfassungs- und Datenverarbeitungsalgorithmen eingesetzt, wobei die integrierten Fehlerüberprüfungsmöglichkeiten die erforderliche Diagnose und Charakterisierung der Fehler vorsehen. Um Fehler effektiv zu erkennen und zu klassifizieren, verwendet die UCK P15wafer Test- und Messtechnikmaschine fortschrittliche Synthesebilder und automatische Erkennungsalgorithmen. Darüber hinaus werden Bildrekonstruktionsalgorithmen eingesetzt, um die Sichtbarkeit von schwer erkennbaren Fehlern zu verbessern. Eine Vielzahl von automatischen Wafer-Analysefunktionen sind ebenfalls enthalten, so dass Benutzer Fehler schnell und genau direkt auf dem Substrat identifizieren und klassifizieren können. Weitere Merkmale des TENCOR P 15-Tools sind ein optionales Laser-Interferometriemodul zur Messung der Oberflächenunregelmäßigkeit und ein Asset zur Messung der Überlagerungsleistung. Eine Echtzeit-Messtechnik-Option ist verfügbar, um die Größe, Form und Orientierung von Strukturen auf dem Wafer zu messen und zu verfolgen, wie Linien- und Raumbreiten, kritische Dimensionen und Korngröße. Anwender können auch die Vorteile eines PCI-Modells (Advanced Process Capability Index) nutzen, um die allgemeine Waferqualität und Prozessleistung zu messen. P15 Wafer-Prüf- und Messtechnik bietet erstklassige Funktionen für Inspektion, Charakterisierung und integrierte Fehlerüberprüfung. Es ist hochgenau, schnell und zuverlässig und somit eine ideale Wahl für Halbleiterhersteller, die die höchste Qualität ihrer Komponenten gewährleisten möchten. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und der benutzerfreundlichen Schnittstelle bietet das KLA P15 System eine ideale Lösung für die Prüfung und Messtechnik von Halbleiterscheiben.