Gebraucht KLA / TENCOR P15 #293752717 zu verkaufen

ID: 293752717
Surface profiler Does not include PC.
KLA/TENCOR P15 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um präzise und genaue Messungen der Wafereigenschaften und Oberflächeneigenschaften zu ermöglichen. Das System bietet eine automatisierte, zerstörungsfreie Charakterisierung und Steuerung von Wafer-kritischen Abmessungen, Topographie und Oberflächenbande. Diese Test- und Messtechnik-Einheit wurde mit der neuesten Technologie entwickelt und nutzt fortschrittliche Optik, Sensoren und Software, um beispiellose Genauigkeit und integrierten Workflow zu bieten. KLA P-15 Maschine ist entworfen, um Wafer bis zu 300mm Durchmesser zu analysieren und zu verarbeiten, und ist in der Lage, eine breite Palette von Eigenschaften und Eigenschaften zu messen, einschließlich Oberflächenebene, Schritthöhe, Fehlergröße, Elliptizität, Überlagerung, Rauheit, Linienbreite, Foliendicke und elektrische Eigenschaften ken. Um dies zu erreichen, umfasst das Tool eine Vielzahl von optischen, elektrischen und thermischen Messtechnik-Systemen einschließlich Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Atomkraftmikroskopie (AFM), Spektroskopie und Spektrometrie. TENCOR P 15 umfasst auch zerstörungsfreie Prüfgeräte, wie Funkentester und Kapazitätssonden. KLA P 15 Asset wurde entwickelt, um höchste Präzision und Genauigkeit zu bieten. Die proprietäre Optik, Sensoren und Software wurde entwickelt, um die Leistung zu optimieren und sowohl einen hohen Durchsatz als auch wiederholbare Ergebnisse zu erzielen. Das Modell ist auch so konzipiert, dass es benutzerfreundlich ist, so dass der Bediener die Geräte mit wenigen Klicks konfigurieren und überwachen kann. Die KLA/TENCOR P 15 umfasst auch eine robuste Unterstützung bei der Datenerfassung, -analyse und -berichterstattung. Auf diese Weise können Kunden Testergebnisse und -fehler schnell analysieren und verfolgen und wichtige Informationen zur Validierung der Produkteigenschaften bereitstellen. Darüber hinaus umfasst das System eine breite Palette von Analysewerkzeugen für die anspruchsvolle Analyse der Daten, wie digitale Bildgebung und Defektmapping. KLA P15 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit bietet Präzision, Genauigkeit und integrierten Workflow, unübertroffen in der Halbleiterindustrie. Der erweiterte Werkzeugsatz und die automatisierten Prozesse ermöglichen es Kunden, Eigenschaften und Fehler von Wafern schnell zu analysieren, zu steuern und zu melden. Die Maschine wurde entwickelt, um Produktqualität und Zuverlässigkeit zu gewährleisten, so dass Kunden einen Wettbewerbsvorteil erhalten können.
Es liegen noch keine Bewertungen vor