Gebraucht KLA / TENCOR P15 #293798607 zu verkaufen

KLA/TENCOR P15 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Geräte sind ein hochmodernes Werkzeug, das eine umfassende Messtechnik für die Halbleitertechnik bietet. KLA P-15 verfügt über eine patentierte Dual-Detection-Lasertechnologie und das OptiSpec-Handbuch cup™ mit dem das System sowohl hochauflösende physikalische Defekte als auch erweiterte parametrische Messungen von Linienbreiten, kritischen Dimensionen und Overlay gleichzeitig messen kann. Die Hochgeschwindigkeits-lineare Erzeugung fortschrittlicher Laserstrahlen in Kombination mit kostenloser Laseroptik und digitaler Signalverarbeitung bietet Einstrahlgenauigkeit. Die patentierte Dual-Detection-Lasertechnologie ermöglicht es dem Gerät auch, mit hoher Leistung bei niedrigen Betriebskosten zu arbeiten. Die Maschine ist mit sieben Scanbereichsoptionen von bis zu 20mm entlang der x-Achse und 8 mm entlang der y-Achse ausgestattet, die mehrere Messungen über die interessierende Probe ermöglichen. Darüber hinaus verfügt TENCOR P 15 über einen mechanischen Scanner mit monochromer Offset-Bewegungssteuerung, der eine präzise Positionierung und schonende Abgabe der Probe ermöglicht. P15 ist auch für einen schnellen, effizienten Betrieb optimiert. Das Werkzeug kann einfach eingerichtet und programmiert werden, so dass es für den Einsatz in Labor- und Produktionsumgebungen geeignet ist. Die Onboard-Scan-Engine ist für maximalen Durchsatz optimiert und enthält erweiterte Fehlerkorrekturalgorithmen und geräuscharmes Design, um präzise, wiederholbare Ergebnisse zu gewährleisten. Darüber hinaus ist KLA/TENCOR P 15 mit einem optisch variablen Chip (OVC) und Stanztisch (DMT) ausgestattet, die dazu beitragen, dass die Messdaten die Messungen an der Probe so genau wie möglich reflektieren. Darüber hinaus ermöglicht TENCOR P-15 visuelle Inspektionsoptik eine hochauflösende Bildgebung und Messtechnik von Merkmalen bis zu 0,1 Mikrometer. Die integrierte Verarbeitungseinheit des Vermögenswertes wird von der Autodrive™ angetrieben, die hilft, den Prozess der Probenvorbereitung und -analyse zu rationalisieren. Insgesamt ist KLA/TENCOR P-15 Wafertest- und Metrologiemodell ein fortschrittliches Metrologiewerkzeug, das für die Halbleitertechnologie entwickelt wurde und eine ausgezeichnete Präzision, Geschwindigkeit und Genauigkeit bietet. Das Gerät ermöglicht mehrere Messungen in einem einzigen Scan und ist mit hochauflösender Bild- und Messtechnik, fortschrittlicher Lasertechnologie und digitaler Signalverarbeitung ausgestattet. Darüber hinaus ist das System mit einem optisch variablen Chip- und Stanztisch ausgestattet, um höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu gewährleisten.