Gebraucht KLA / TENCOR P15 #293809526 zu verkaufen

KLA/TENCOR P15 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Halbleiterindustrie. Das System ist mit hochauflösenden Kameras und Bildverarbeitungssoftware ausgestattet, die es ermöglicht, Fehler an Wafern mit hoher Genauigkeit genau zu erkennen und zu messen. Das Gerät ist auch mit Multi-Sensor und Multi-Messtechnik ausgestattet, so dass es in der Lage, mehrere Messtypen, einschließlich Dicke, Ebenheit, Risserkennung und dreidimensionale Bildgebung. Die Maschine basiert auf einer Inline-Inspektionsarchitektur, die über einen integrierten Feeder, Prober, eine Kartierungsstufe und Beschichtungsgeräte auf Waferebene verfügt. Diese Architektur eliminiert jeden Übertragungsschritt und ermöglicht Wafertests mit hohem Durchsatz. Darüber hinaus identifizieren und klassifizieren die fortgeschrittenen bildgebenden Algorithmen des Tools Fehler anhand von Parametern wie Form, Kontrast und Größe. Diese Architektur vereinfacht auch Dual-Tool-Operationen, sodass UCK- P-15 einen einzelnen Wafer ohne komplexe Asset-Rekonfigurationen prüfen und messen können. Das Modell ist auch mit Inspektions- und Messtechnik-Software der KLA C-Serie ausgestattet, die über erweiterte messtechnische Funktionen und Zykluszeitoptimierungssoftware verfügt. Diese Software ermöglicht es Benutzern, eine breite Palette von Inspektionen durchzuführen, einschließlich Kantenausschluss, Linienbreitenbestimmung, CD-Ebenheit, CD-Profil, Ätztiefe, Dünnschichtdicke und CD-Neigung. Darüber hinaus bietet die Software robuste Algorithmen für Werkzeug-zu-Werkzeug und Muster-zu-Muster-Korrelation sowie statistische Prozesskontrolle und Ertragsanalyse. TENCOR P 15 ist in der Lage, sowohl Schütt- als auch Gerätestrukturen auf allen Halbleitermaterialien, einschließlich Silizium, Germanium und Galliumarsenid, zu messen. Darüber hinaus reduzieren die automatisierten Kalibrierungs- und Prod-Workflows die Rüstzeiten erheblich, sodass Benutzer die Geräte schnell in Betrieb nehmen können. Das System ist auch mit Hochleistungs-Luftlagerstufen ausgestattet, die eine glatte Waferbewegung und präzise Wafer-Positionierung bieten. Insgesamt ist P15 eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit, die für den Einsatz in der Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Die hochauflösenden Kameras und die Bildverarbeitungssoftware der Maschine sind in der Lage, Fehler auf verschiedenen Wafern genau zu erkennen und zu messen. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte Multi-Sensor- und Multi-Messtechnik eine Vielzahl unterschiedlicher Messungen an einem einzelnen Wafer. Darüber hinaus bietet die Inspektions- und Messtechnik-Software TENCOR C Series des Tools robuste Messtechnik und Zykluszeitoptimierungssoftware, mit der Anwender sowohl grundlegende als auch anspruchsvolle Inspektionen schnell und einfach durchführen können.