Gebraucht KLA / TENCOR P15 #293827959 zu verkaufen

KLA / TENCOR P15
ID: 293827959
Surface profiler.
KLA/TENCOR P15 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine fortschrittliche Halbleiterprüfplattform, die Fehler, Kontamination und Gleichmäßigkeit von dünnen Siliziumscheiben identifiziert und misst, die für die Herstellung von Stempeln verwendet werden. Mit außergewöhnlicher Produktivität und Leistung bietet dieses System schnelle und präzise Messtechnik, um Musterfehler und Variationen auf jeder Art von Wafer schnell zu erkennen. Die KLA- P-15 umfasst eine Oberflächenanalyse-Einheit (SAS), die hochauflösende Oberflächenqualitätsabbildungs- und Inspektionsmöglichkeiten bietet. Die Maschine verfügt auch über eine integrierte Messsoftware-Suite, mit der Benutzer Testkonfigurationen einrichten und steuern, Ergebnisse auswerten und Daten in verschiedenen Formaten erhalten können. Darüber hinaus verfügt TENCOR P 15 über ein integriertes Softwarepaket mit 1mm und 7mm OAV (Optical Automation Vision) Messungen. OAV-Messungen ermöglichen es dem Werkzeug, lineare Breite, Linientrennung und Steigung genau zu messen und gleichzeitig Wafer-Topographieeffekte zu berücksichtigen. Darüber hinaus ist KLA/TENCOR P-15 für raue Umgebungen ausgelegt, einschließlich Strahlenbelastung und Vibrationen. Es ist mit einem patentierten Strahl-Well patentierten Werkzeug ausgestattet, das die Erkennungsgenauigkeit verbessert, dummying und stabile Ergebnisse liefert. Die Anlage ist zudem vollständig in eine automatisierte Fehler- und Partikelanalysesoftware integriert, die sicherstellt, dass alle Messungen schnell, präzise und ohne manuellen Eingriff durchgeführt werden. P 15 Wafer Testing and Metrology Model hat auch eine Reihe von bedienerfreundlichen Funktionen, wie schnelles Training mit einer benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche, zerstörungsfreie Prüfung (NDT) und einfache Datenproduktion. Für zusätzlichen Komfort, es kommt mit einer Cloud-basierten Client-Server-Architektur, so dass Betreiber auf Echtzeit-Prozessergebnisse zugreifen und Wafer-Fortschritt gleichzeitig verfolgen. KLA/TENCOR P 15 wurde entwickelt, um den aktuellen Anforderungen an die Rückverfolgbarkeit von Losen vollständig gerecht zu werden und verfügt über die vollständige FDA G-10-Konformität sowie die komplette Audit-Trail-Fähigkeit. Die Ausrüstung ist schnell, zuverlässig und produziert genaue Echtzeitdaten und bietet Kunden sofort umsetzbare Intelligenz.
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