Gebraucht KLA / TENCOR P15 #9159740 zu verkaufen

KLA/TENCOR P15 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-Gerät für die fortschrittliche Prüfung, Messtechnik und Inspektion von kleinen und großen Halbleiterbauelementen. KLA P-15 bietet mehrere Funktionen, einschließlich erweiterter Funktionen für den Test und die Messung von Merkmalsgrößen, Ätztiefen, Transistorleckstrom usw. Alle Funktionen sind auf einer einzigen Plattform enthalten, wodurch Komplexität und Kosten reduziert werden. TENCOR P 15 bietet eine kostengünstige Lösung für die Prüfung, Messtechnik und Inspektion von Wafern. Es verwendet ein patentiertes Bildgebungssystem und fortschrittliche Algorithmen, um eine verbesserte Leistung zu bieten und gleichzeitig die Zeit bis zur Messung zu reduzieren. Das Gerät verfügt auch über Vollfeldmapping mit einer Auflösung von 5 Mikrometern. Dies ermöglicht höhere Präzisionsmessungen und schnellere Zykluszeiten. Die Maschine ist in der Lage, eine breite Palette von Parametern zu messen, einschließlich gerätekritischer Dimension (CD), Ätztiefe, Transistorleckstrom und Abscheidehaftung. P-15 bietet auch erweiterte Fehlerinspektionsmöglichkeiten. Die einzigartige bildgebende Hardware und fortschrittliche Algorithmen ermöglichen eine zuverlässigere und genauere Erkennung von Fehlern und ermöglichen eine proaktive Prozesskontrolle für verbesserte Ausbeute und Gerätesicherheit. Die KLA- P15 bietet auch erweiterte Datenanalysefunktionen, einschließlich automatischer Konzentrationstrendentwicklung, Fehlergrößenberichterstattung und fortschrittlicher statistischer Analysen. Diese leistungsstarke Analysefähigkeit ermöglicht eine einfache Erkennung von Problemen, eine verbesserte Prozesskontrolle sowie eine höhere Ausbeute und Gerätekonsistenz. Insgesamt ist P15 ein fortschrittliches Wafer-Test- und Metrologie-Tool mit leistungsstarken Funktionen und flexiblen Optionen. Es wurde entwickelt, um höchste Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu gewährleisten, um Qualität und Konsistenz der Geräte zu gewährleisten. KLA/TENCOR P-15 macht es einfach, Daten zu testen, zu messen, zu überprüfen und zu analysieren, wodurch Komplexität und Kosten reduziert und gleichzeitig Ertrag und Gerätesicherheit verbessert werden.