Gebraucht KLA / TENCOR P15 #9159741 zu verkaufen

KLA/TENCOR P15 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Analyse von Halbleiterscheiben. Das System verwendet fortschrittliche automatisierte Messtechniken, um Fehler auf Wafern zu erkennen, die während der Fertigungsprozesse verursacht werden können. KLA P-15 wurde entwickelt, um den gesamten Wafer zu durchsuchen und auch den kleinsten Defekt auf der Oberfläche des Wafers zu erkennen. Die Einheit kann auch eventuelle Aberrationen in der Waferoberfläche, wie Dickenänderung und Oberflächenübertragung, erkennen und klassifizieren. Die Maschine verwendet ein hochauflösendes optisches Mikroskop mit integrierter chromatischer Aberrationskorrektur, um den Wafer mit höchster Genauigkeit zu Mehrpunktscannen. Das Tool kann auch mit fortschrittlichen Algorithmen ausgestattet werden, die dazu dienen, abnorme Muster automatisch zu erkennen und mit vorgegebenen Standardmustern zu vergleichen. Das Asset integriert auch die polarisierte Lichtmikroskopie, um einen höheren Durchsatz und eine höhere Detektionsgenauigkeit zu bieten. Das Modell bietet eine intuitive Benutzeroberfläche für einfache Bedienung. Es beinhaltet integrierte Videoprüfung zur manuellen Überprüfung von Fehlern. Funktionen wie Echtzeit-Wafer-Mapping und automatisierte Fokussteuerung ermöglichen schnelles und einfaches Scannen. Die Deep-Learning-Fähigkeiten des Geräts bieten einen intuitiven dreidimensionalen Überblick über die Waferkarte, mit der jede Art von Defekten im Wafer identifiziert werden kann. Neben der Fehlererkennung kann das System auch für andere Arten von kritischen Messungen verwendet werden. Es liefert genaue Ergebnisse für Messungen wie Filmdicke, Linienbreite und Partikeldichte. Es kann auch verwendet werden, um Strukturen wie Vias, Gräben, Kontaktlöcher und Pfosten zu analysieren. Es bietet auch messtechnische Fähigkeiten wie Folienebenheit und Neigungsmessungen. Die integrierten SPC-Tools von TENCOR P 15 ermöglichen die statistische Prozesskontrolle und die frühzeitige Erkennung potenzieller Probleme, die Probleme mit der Produktqualität verursachen können. Diese Informationen können zur eingehenden Analyse und kontinuierlichen Prozessverbesserung verwendet werden. Das Gerät bietet auch eine Vielzahl weiterer Funktionen wie Remote-Support, Datenarchivierung und automatisiertes Reporting. Insgesamt ist KLA P 15 eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die zur Verbesserung der Prozesseffizienz und -ausbeute bei gleichzeitiger genauer Fehlererkennung entwickelt wurde. Die intuitive Benutzeroberfläche und die leistungsstarke Messtechnik machen es zu einem idealen Werkzeug für die Halbleiterindustrie.