Gebraucht KLA / TENCOR P15 #9261862 zu verkaufen

KLA / TENCOR P15
ID: 9261862
Wafergröße: 8"
Surface profiler, 8".
KLA/TENCOR P15 ist ein automatisiertes Wafertest- und Messtechniksystem. Es ist eine Multi-Tool-Plattform, die für erweiterte Wafer-Inspektion, Fehlerklassifizierung, optische Erfassung und berührungslose Topographie verwendet wird. KLA P-15 wurde entwickelt, um Wafer-Tests und Messtechnik mit hoher Genauigkeit und hohem Durchsatz durchzuführen. Es bietet sowohl erweiterte optische als auch berührungslose Modi. Im optischen Modus kann TENCOR P 15 Reflektivität, optischen Kontrast und Materialkontrast messen. Zusätzlich kann es nanoskalige Profildaten erzeugen, um kritische Abmessungen und KE-Höhen zu messen. Im berührungslosen Modus kann es kleine Defekte mit Laser-Scantechniken erkennen. P 15 wurde mit erweiterten Analysefunktionen entwickelt. Mit seinen KI-gesteuerten Algorithmen kann TENCOR P-15 eine Vielzahl von Fehlern automatisch erkennen, identifizieren und klassifizieren. Es verfügt auch über erweiterte Muster-Matching-Algorithmen, die eine schnellere und genauere Überprüfung von Wafer-Karten und Daten ermöglichen. Hinsichtlich der Genauigkeit hat KLA- P15 eine maximale Auflösung von 0,4 µm bei einer Genauigkeit von 0,1 µm. Sein Dynamikbereich kann bis zu 10 Millionen: 1 betragen. Darüber hinaus ist KLA/TENCOR P 15 hochflexibel ausgelegt, so dass Anwender das System problemlos nach unterschiedlichen messtechnischen Anforderungen umkonfigurieren können. Darüber hinaus ist P-15 so konzipiert, dass es ergonomisch ist, mit einfachem Zugriff auf Probenladen, Probenwechsel und Wafer-Kartenprüfung. Insgesamt bietet KLA P 15 Anwendern ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnik-System. Aufgrund seiner Genauigkeit, Flexibilität und Ergonomie ist es für eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiterherstellung gut geeignet.
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