Gebraucht KLA / TENCOR P15 #9302869 zu verkaufen

ID: 9302869
Surface profiler.
KLA/TENCOR P15 wafer testing and metrology equipment ist eine automatisierte Messtechnik-Plattform, die verschiedene Eigenschaften von Halbleiterscheiben genau messen kann. Es bietet eine umfassende Palette von Wafer-Tools, darunter ein Wafer-Mapping-Tool, optische Messtechnik-Tools, Beschleunigungsprüfwerkzeuge und eine breite Palette anderer Mess- und Analysewerkzeuge. Es wurde auch so konzipiert, dass es einfach zu bedienen ist, mit einer intuitiven Benutzeroberfläche und einer umfassenden Bibliothek von Standard- und maßgeschneiderten Testverfahren. KLA P-15 kommt mit einer Reihe von leistungsstarken optischen Messtechnik-Werkzeugen, wie einem Konturierwerkzeug und einem Dicke-Profiler. Es ist mit einem automatisierten Fokussiersystem konzipiert, das genaue Messungen in einem Bruchteil der Zeit manueller Techniken gewährleistet. Darüber hinaus verfügt TENCOR P 15 über einen Hochleistungs-Laserstrahl für Lasertexturierung und Wafer-Musteranwendungen. Die Lasernutzungsspannung ist für bestimmte Anwendungen einstellbar, und der Laser kann für höhere Präzisionsergebnisse auf Pulsmodus eingestellt werden. KLA P 15 kann auch die Beschleunigung eines Wafers messen. Das Gerät verwendet Hochgeschwindigkeitsbeschleuniger und einen hochpräzisen Encoder, um die Beschleunigung und Verzögerung eines Wafers während des Tests genau zu messen. Zusätzlich kann mit dem Waferbeschleunigungs-/Verzögerungsprüfwerkzeug wiederholbare Testergebnisse erstellt und die Qualität des Wafers sichergestellt werden. Die Maschine verfügt auch über ein mehrspaltiges Wafer-Mapping-Tool, das die Oberfläche eines Wafers genau abbilden soll. Das Werkzeug verwendet ein Array von 16 Spalten, um leicht eine Karte der Waferoberfläche zu erstellen, einschließlich ihrer Dicke, Höhe, Fläche und mehr. Das Werkzeug kann auch über eine Standard-Software-Schnittstelle für eine optimale Benutzerfreundlichkeit bedient werden. Insgesamt ist P 15 eine automatisierte Messtechnik-Plattform, die eine Reihe leistungsstarker Werkzeuge und Funktionen für Wafertests und Messtechnik bietet. Es wurde mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche entworfen und kann in einem Bruchteil der Zeit der manuellen Methoden genaue Ergebnisse erzielen. Darüber hinaus verfügt KLA P15 über eine Vielzahl von Werkzeugen zur Messung der Beschleunigung und Verzögerung, Konturierung, Lasertexturierung und Strukturierung sowie Wafer-Kartierung. Diese Eigenschaften machen P15 zu einer ausgezeichneten Wahl für Wafertests und messtechnische Anwendungen.
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