Gebraucht KLA / TENCOR P15 #9306139 zu verkaufen

KLA/TENCOR P15 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für den Einsatz in der Halbleiter- und integrierten Schaltungsindustrie entwickelt wurde. Es wird verwendet, um Fehler an Halbleiterscheiben zu erkennen und zu analysieren und dem Engineering-Team Ergebnisse zu liefern. KLA P-15 System ermöglicht die Waferuntersuchung mit einer hochauflösenden Bildaufnahmeeinheit und die Fähigkeit, Probengröße und Fehlergröße präzise zu messen. Es ist mit einer hochauflösenden Bildverarbeitungsmaschine ausgestattet, die Beispielbilder erfasst und eine Reihe von strengen Tests durchführt. Dieses Tool verwendet optische und infrarote Bildgebung und Spektroskopie sowie Erkennung. Um einen Wafer zu testen, verwendet TENCOR P 15 Laserstrahl-Technologie und proprietäre Algorithmen, die die Präzision des Asset erhöhen. Die Algorithmen helfen dem Modell, verschiedene Fehler zu unterscheiden und von normalen und akzeptablen Werten zu trennen. Die Ausrüstung kann auch Wafer Ebenheit und Dicke mit hoher Genauigkeit messen. Zusätzlich, durch die Verwendung von fortschrittlichen Laser-Interferometrie ist das System in der Lage, Fehler zu erkennen submicron in der Größe. P-15 hat eine extrem schnelle Taktrate von einer Sekunde, die es ermöglicht, Hochdurchsatz-Produktionslinien zu handhaben. Dieses Gerät verfügt über zwei, portalmontierte Stufen und ist in der Lage, auf 24 verschiedenen Autoloadern gleichzeitig zu arbeiten, wodurch die Flexibilität erhöht wird. Diese hohe Durchsatzfähigkeit sowie seine Fähigkeit, ultra-kleine Defekte zu erkennen, macht TENCOR P15 zu einer idealen Wahl für komplexe Wafer-Testanforderungen. KLA P 15 verwendet eine Vielzahl von messtechnischen Werkzeugen, einschließlich CCD-Bildgebung, optische Reflektometrie, multiple Spektroskopieverfahren und AFM-Bildgebung. Dies ermöglicht es der Maschine, verschiedene Merkmale wie Korngröße und Form, Oberflächenrauhigkeit und Zusammensetzung zu analysieren, so dass es ideal für eine Reihe von Wafer-Prüfanforderungen ist. Die UCK- P15 liefert auch eine genaue Datenanalyse. Das Tool umfasst fortgeschrittene modellbasierte Fehlerklassifizierungsalgorithmen (MODCAL), die Fehler automatisch nach ihren Eigenschaften erkennen und klassifizieren. Dies hilft, falsche positive Effekte zu reduzieren, was es Fachleuten erleichtert, Daten zu interpretieren und intelligente Entscheidungen vertrauensvoll zu treffen. Abschließend ist P15 eine zuverlässige und präzise Prüf- und Messtechnik für Wafer, die mit ihren präzisen Fehlererkennungs- und Analysefunktionen die Zuverlässigkeit von Produkten gewährleisten kann. Die hohe Durchsatzfähigkeit des Modells und die schnelle Zyklusrate von einer Sekunde machen es zu einer idealen Wahl für Serienproduktionslinien und die fortschrittliche Technologie, die es verwendet, macht es zur perfekten Ausrüstung für komplexe Anforderungen an Wafer-Tests.