Gebraucht KLA / TENCOR P15 #9315027 zu verkaufen

KLA/TENCOR P15 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Geräte sind für eine schnelle, effiziente, automatisierte Prüfung und Inspektion von Halbleitermaterialien und -produkten konzipiert. Mit einer automatisierten optischen Inspektionslösung ist das System in der Lage, potenzielle Defekte wie Mikrorisse, Partikel und andere Fehler zu erkennen. KLA P-15 integriert spezielle Bildgebungs-, Beleuchtungs- und Analysetechnologien, um Bilder von Waferoberflächen schnell zu erfassen und zu analysieren. Das Gerät enthält proprietäre Algorithmen zur Erkennung von Merkmalen, die zur Identifizierung und Messung schwierig zu erkennender objektiver Eigenschaften beitragen. Darüber hinaus verfügt TENCOR P 15 über eine Reihe von Präzisions-Messtechnik-Tools und erweiterte Messungen. Diese Werkzeuge ermöglichen eine präzise und präzise Messung von Wafertopographie, Abmessungen und anderen Materialeigenschaften, wie Ebenheit und Profil. Diese Messungen sind für die Einhaltung der für den Erfolg in der Halbleiterindustrie notwendigen genauen Maßanforderungen unerlässlich. Darüber hinaus besteht P15 aus hochpräzisen Sensoren, die präzise Daten von Wafer-Oberflächenprofilen erfassen. Dies ermöglicht eine genaue Messung von Formelementgrößen, Abständen, Oberflächentopographie und vielen anderen Oberflächeneigenschaften. P-15 bietet auch leistungsstarke Software-Tools zur Analyse, Sortierung und Berichterstattung von Ergebnissen. Die Analysefunktionen der Software ermöglichen eine detaillierte Fehlerklassifizierung, Dateninspektion und statistische Zusammenfassungsberichte. Die Maschine ist in der Lage, große Datenmengen zu speichern, zu analysieren und zu melden. Die Reporting-Funktionen ermöglichen es Benutzern, die Informationen dem Kunden sinnvoll darzustellen. KLA/TENCOR P 15 bietet automatisierte Fehlersortierungs-, Berichts- und Fehlermanagementfunktionen, die eine Steigerung der Inspektionseffizienz bei gleichzeitig sinkenden Kosten für das Datenmanagement ermöglichen. Darüber hinaus beinhaltet TENCOR P-15 eine Verbindung zum Online-Fehlermanagement-Tool der UCK. Auf diese Weise können Benutzer aus der Ferne auf Fehlerdaten zugreifen und Daten sicher teilen und zusammenarbeiten. Insgesamt ist KLA P15 Wafer-Prüf- und Messtechnik ein integrales Werkzeug zur Messung, Inspektion und Analyse von Halbleitermaterialien und -produkten. Mit leistungsstarken Bildgebungstechnologien, Messtechniken, Analysen und Reporting-Funktionen bietet KLA P 15 Anwendern eine zuverlässige und effiziente Lösung für ihre Wafer-Testanforderungen.