Gebraucht KLA / TENCOR P15 #9315028 zu verkaufen

ID: 9315028
Surface profiler Upgraded PC: Pentium 4 LCD Monitor, 19" Keyboard and mouse SSD Hard Disk Drive (HDD) L-Stylus: 2 um/60 Operating system: Windows XP Operation manual.
KLA/TENCOR P15 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die hochgenaue und zuverlässige Daten liefert. Dieses System eignet sich ideal für Anwendungen in den Bereichen Produktentwicklung, Forschung und Entwicklung, Fehleranalyse, Prozesssteuerung und Prozessentwicklung. Es handelt sich um eine vollautomatisierte, multifunktionale Einheit, die speziell auf die Prüfung, Analyse und Charakterisierung von Halbleiterscheiben ausgerichtet ist. KLA P-15 Maschine integriert mehrere Technologien, um umfassende und genaue Informationen schnell bereitzustellen. Es ist mit fortschrittlichen Bildanalysen und Echtzeit-Mustererkennungsalgorithmen ausgestattet, um schnelle Materialklassifizierung, Fehler- und kritische Maßmessungen mit Präzision zu ermöglichen. Darüber hinaus kombiniert es optische, elektrische und akustische Messtechnik, um Geräteeigenschaften sowie Wafer- und Schaltungsmaterialien und Parameter genau zu charakterisieren. Das Werkzeug verfügt über eine zuverlässige Fehlererkennungsfähigkeit mit hoher Genauigkeit, um die hohen Anforderungen sowohl in der Produktionsprüfung als auch in der Forschung und Entwicklung zu erfüllen. Es verwendet mehrere analytische Werkzeuge, einschließlich Mikroskopie, Tunnelmikroskopie (TEM), Rastermikroskopie und zweistufige Spektroskopie. Darüber hinaus verfügt das Asset über einen Dynamikbereich für hochauflösende Bildgebung, mit dem auch der kleinste Defekt erkannt werden kann. Darüber hinaus bietet TENCOR P 15 auch eine sehr zuverlässige Inspektion von Musterkanten sowie genaue Wachstumsmessungen von Doppelmusterstrukturen. Das Modell umfasst einen High-End-PC mit einem 21-Zoll-Touch-Monitor und einer Multiprozessor-CPU, um schnellere Wafertests und Analysezeiten zu unterstützen. Es umfasst auch verschiedene robotische und automatisierte Prozesse, um praktische Zeit zu minimieren, manuelle Fehler zu reduzieren und Daten effizient bereitzustellen. P 15 umfasst auch eine Reihe von Bildanalyse, Software und Datenverarbeitungsprogrammen. Es hat die Fähigkeit, eine Vielzahl von Prozessen durchzuführen, einschließlich Positivton- und Negativton-Foliendickenmessung, optische Streuungsanalyse, Legierungszusammensetzungsanalyse, Schicht-Schicht-Registrierung Verifizierung und Mikrostrukturanalyse. Darüber hinaus bietet das Gerät eine Reihe von Funktionen wie statistische Prozesskontrolle, Ursachenanalyse, Ertragsmanagement und Fehlererkennung zur weiteren Qualitätssicherung. Zusammenfassend bietet das TENCOR P15 System eine wirtschaftliche Lösung für hochwertige Prozesssteuerungs-, Verifikations- oder Fehleranalyseanwendungen, da es eine Vielzahl automatisierter und zuverlässiger Test- und Messtechnikfunktionen bietet. Es kann eine wesentliche Verbesserung der Wafer-Charakterisierung, Qualitätssicherung und Ertragsmanagement bieten.
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