Gebraucht KLA / TENCOR P16+ #293765625 zu verkaufen

ID: 293765625
Profiler.
KLA/TENCOR P16 + ist eine Ausrüstung für die Prüfung und Messtechnik von Wafern mit hohem Durchsatz. Es verfügt über vier verschiedene Komponenten, die eine präzise Messung unterschiedlicher Eigenschaften auf Siliziumscheiben ermöglichen. Der erste Teil des Systems besteht aus einer Seheinheit, die verwendet wird, um die Position eines Wafermusters oder Defekts zu identifizieren und zu messen. Diese Maschine verwendet einen präzisen Laser zur korrekten Ausrichtung und ist mit einer hochauflösenden Digitalkamera ausgestattet, die Muster oder Defekte von der Waferoberfläche erkennen kann. Dieses Tool enthält auch ein optisches Mikroskop, um den genauen Fokus zu optimieren und qualitativ hochwertige Bilder zu erhalten. Der zweite Teil ist die Metrology Station, die die gesammelten Daten aus dem Vision Asset verwendet, um Wafer-Eigenschaften genau zu messen. Diese Station ist mit fortschrittlichen optischen Software-Tools integriert, um Wafer-Funktionen wie Linien, Fackeln und Hohlräume zu messen. Es verfügt auch über eine berührungslose optische Technik namens Photometric Stereo (PS), die verwendet wird, um eine dreidimensionale Darstellung der Oberfläche zu konstruieren, um einzelne Topographie und Oberflächenunvollkommenheiten zu bestimmen. Der dritte Teil ist ein High-Speed Mapping Modell, das verwendet wird, um schnell eine Zuordnung von bis zu 100 einzelnen Mustern oder Defekten zu erstellen. Dieses Gerät ist extrem effizient, so dass es schnell große Wafer mit hoher Auflösung scannen kann. Es ist auch mit statistischen Tools ausgestattet, um die gewonnenen Daten zu analysieren und zuverlässige Ergebnisse zu liefern. Der vierte und letzte Teil des Systems ist eine automatisierte Defekt- und Kratzprüfeinheit (ADSI). Diese Maschine verwendet Laseroptiken, um einen Wafer auf Fehler oder Oberflächenkratzer zu untersuchen, die den Prozess beeinflussen können. Dieses Tool enthält ausgefeilte Bildverarbeitungsalgorithmen zur Erkennung und Klassifizierung von Fehlern. Insgesamt ist die KLA P 16 + ein vielseitiges Asset für Wafertests und Messtechnik. Seine Komponenten bieten präzise Wafer-Eigenschaften und Fehlermessungen, die schnelle und genaue Ergebnisse ermöglichen. Sein robustes Design und leistungsstarke Software-Tools machen es zu einem zuverlässigen Modell für jeden Wafer-Testprozess.
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