Gebraucht KLA / TENCOR P16+ #293815639 zu verkaufen

KLA/TENCOR P16 + ist ein automatisiertes Wafertest- und Messtechnik-System, das umfassende messtechnische Lösungen für die Halbleiterindustrie bietet. Es verwendet fortschrittliche Algorithmen und proprietäre Sensortechnologie, um Wafer schnell und genau zu messen und zu analysieren. KLA P 16 + kann zur Messung der Dicke, Fehleranalyse und Topographie von Wafern und anderen Substraten mit einem Dickenbereich zwischen 0,8 und 32 Mikrometern verwendet werden. Die Einheit kann auch für verschiedene Ebenen der optischen Prüfung konfiguriert werden, einschließlich Prozessüberwachung und detaillierte Fehleranalyse. TENCOR P-16 + ist mit einer anspruchsvollen optischen Inspektionsmaschine mit einem mehrwelligen Laserbeleuchter ausgestattet, der für eine Vielzahl von Tests wie Reflexions- und Brechungsindexmessungen verwendet werden kann. Die einzigartige Mehrwellenlängenoptik ermöglicht es dem Werkzeug, über NIST nachvollziehbare Qualifikationstests hinaus durchzuführen. Die Anlage verwendet außerdem einen modularen Sondenkopf mit austauschbaren Linsen und Bühnenplatten zur hochpräzisen Probenahme und Messung. KLA P-16 + ist auch in der Lage, eine breite Palette von elektrischen Testsignalen in einem analogen oder digitalen Format zu erfassen. Diese verzahnte Funktion ermöglicht die Testcharakterisierung, Prozessüberwachungstests und Fehleranalysen. Darüber hinaus umfasst das Modell anspruchsvolle Embedded-Software und leistungsstarke analytische Software-Tools zur einfachen Datenerfassung und -analyse. KLA/TENCOR P-16 + Geräte sind je nach Bedarf und Budget in verschiedenen Konfigurationen erhältlich. KLA/TENCOR P 16 + System beinhaltet eine automatisierte Wafer-Mapping-Einheit zur genauen Messung über jede Waferoberfläche für bis zu 3.000.000 Punkte. Darüber hinaus ist es mit einer innovativen Querschnittsbildmaschine ausgestattet, die es dem Anwender ermöglicht, dreidimensionale Strukturen von gescannten Objekten genau zu analysieren. Insgesamt bietet KLA P16 + Wafer Testing and Metrology Tool überlegene Leistung und Genauigkeit für alle Arten von Produktions- und Forschungsanwendungen. Die fortschrittliche optische Inspektionsanlage, das automatisierte Wafer-Mapping-Modell und die leistungsstarke Analysesoftware machen es zu einer idealen Wahl für Halbleiterproduzenten und -forscher.