Gebraucht KLA / TENCOR P16+ #9395553 zu verkaufen

KLA/TENCOR P16 + Wafer Testing and Metrology System ist eine umfassende, digitale Plattform für Tests und Messtechnik in der Halbleiter-, Nanotechnologie und MEMS-Industrie. Diese integrierte Plattform bietet die Zuverlässigkeit, Genauigkeit und Leistung, die für die Inline-Messtechnik, die Messung kritischer Dimensionen und das Ertragsmanagement erforderlich sind. Die Kernkomponenten der KLA P 16 + sind die OptiCAD™ Laserverschiebungssensoren und die hochauflösende optische Baugruppe. Um die Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu maximieren, verwenden diese Komponenten eine Kombination von Technologien wie Bildverarbeitung, Bilderkennung, Profilanpassung, Maskierung und Datenfusion. Die OptiCAD™ Lasersensoren sind darauf ausgelegt, komplexe Gerätetopographiedaten genau und zuverlässig zu erfassen. Dank der fortschrittlichen Leistung im Signal-Rausch-Verhältnis können sie Gerätefunktionen mit Auflösungen bis zu 1 Mikron präzise abbilden. Dies ermöglicht die Messung von Abmessungen in 2D, 3D und 4D. Die hochauflösende optische Baugruppe ermöglicht eine Echtzeit-Bilderkennung und Schichtabbildung und ermöglicht eine hochgenaue Messtechnik über die gesamte Oberfläche des Wafers. Die optische Baugruppe ist in der Lage, Bilder in High-Definition zu erfassen, was die bestmögliche Auflösung für Oberflächenscans und Bildgebung bietet. Mit der Fähigkeit, Wafer bis zu 17-Zoll-Größe zu scannen, kann TENCOR P-16 + Geräte wie große Flachbildschirme und Displays messen. Darüber hinaus verfügt P16 + über leistungsstarke Algorithmen für die Datenanalyse. Diese Algorithmen können Muster identifizieren, Trends erkennen und Fehler isolieren, um die Ertragskontrolle und Qualitätssicherung sicherzustellen. Darüber hinaus verfügt das System über eine komplette Reihe von Software-Tools, die eine effiziente Datenvisualisierung und -analyse ermöglichen und die Problemdiagnose und Fehlerbehebung vereinfachen. Entwickelt für überlegene Betriebseffizienz und Zuverlässigkeit, KLA/TENCOR P-16 + kann in Wafer-Tests und messtechnischen Anwendungen in den Märkten der Lithographie und Gerätecharakterisierung eingesetzt werden. Das System bietet kompromisslose Leistung mit integrierten Ausfallsicherheiten und genauen Echtzeitmessungen, um höchste Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Effizienz zu gewährleisten.