Gebraucht KLA / TENCOR P17 #293814734 zu verkaufen
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KLA/TENCOR P17 ist eine leistungsfähige Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die auf einer robusten und flexiblen Plattform für eine breite Palette von Halbleiterbauelementen aufgebaut ist. Dieses System verwendet fortschrittliche Optik- und Messtechnik-Algorithmen, um genaue und präzise Ergebnisse zu liefern, sodass Ingenieure Daten schnell und genau messen, verarbeiten und analysieren können. Das KLA P-17 Gerät ist mit hochmodernen Komponenten ausgestattet, darunter eine große 6-farbige CCD-Kamera mit hoher Auflösung, ein hochwertiges Flüssigkristalldisplay (LCD) zur visuellen Betrachtung, ein mobiles Spektrometer und ein optischer Komparator. Dieser Aufbau ermöglicht umfassende Prüf- und Messtechnik für Wafer, einschließlich Fehlerklassifizierung, Partikelerkennung, Oberflächeninspektion, Linienbreitenmessung und Dickenmessungen. Die hochauflösende Kamera von TENCOR P 17 ermöglicht es, mikroskopische Bilder von Wafern mit viel Detail zu erfassen, sodass Ingenieure einzelne Pixel auf Oberflächenmerkmale und Defekte analysieren können. Durch den Einsatz von Algorithmen können Ingenieure Merkmale wie Linienbreiten und Oberflächentopographie präzise messen. Das Vorhandensein verschiedener Fehlertypen kann auch durch die automatisierte Detektion von Partikeln bestimmt werden, die nach Größe, Form und Position abgetrennt und identifiziert werden. Zusätzlich zu diesen Kernkompetenzen bietet KLA/TENCOR P-17 eine Vielzahl weiterer Funktionen wie Datenanalyse- und Berichtsfunktionen, statistische Prozesskontrolle und automatisierte Fehlerinspektion. Diese multifunktionale Maschine ist in der Lage, Daten von einer Vielzahl von Substraten zu erfassen, zu verarbeiten und zu analysieren, darunter Siliziumwafer, MEM-Geräte und andere integrierte Schaltungen. Insgesamt ist KLA P17 Tool ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug, das hohe Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu einem erschwinglichen Preis bietet. Es kann verwendet werden, um eine Vielzahl von Substraten zu messen, zu verarbeiten und zu analysieren und Ingenieuren zu helfen, Fehler zu erkennen und zu reduzieren, um die Qualität und Leistung ihrer Produkte zu verbessern. Mit seinen ausgeklügelten Eigenschaften und Fähigkeiten bietet P 17 Wafer Testing und Metrologie eine zuverlässige Lösung für eine zentrale Herausforderung in der Halbleiterindustrie.
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