Gebraucht KLA / TENCOR P17 #293824839 zu verkaufen

KLA / TENCOR P17
ID: 293824839
Surface profiler.
KLA/TENCOR P17 ist eine leistungsstarke, autonome Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für die automatisierte Messtechnik von Waferstrukturen entwickelt wurde. Das System besteht aus zwei Kernkomponenten: der Haupt-Messtechnik-Einheit und der Sample Packaging and Control Unit (SPCS). KLA P-17 bietet automatisierte, hochpräzise Messtechnik für 300mm, 200mm und 150mm Wafer. Die Haupt-Messtechnik-Einheit ist eine Präzisions-Scanstufe, die es ermöglicht, Wafer genau auszurichten und dann mit einer hyperspektralen Bildgebungstechnik zu schießen. Die Abtaststufe wird von einem rauscharmen Linearservomotor mit hoher Geschwindigkeit positioniert und betrieben, der so konfiguriert werden kann, dass er einen bestimmten Bereich von Wafern scannt und seine Geschwindigkeit für eine optimale Leistung einstellt. Diese Scanmaschine verwendet fortschrittliche CCD/CMOS-Sensoren und eine schwingungsgedämpfte Scanstufe, um eine hochauflösende Analyse mit wiederholbarer Genauigkeit zu gewährleisten. TENCOR P 17 enthält auch ein erweitertes Sample Packaging & Control Tool (SPCS) zur Probenvorbereitung und -kontrolle. Das SPCS kombiniert mehrere Komponenten, die ein schnelles Be- und Entladen mehrerer Wafer, Beispielzuordnung und Ausrichtung sowie Speicherung und Abruf von Wafer-Metriken ermöglichen. Die SPCS kann mehrere Wafer sicher verpacken, die dann versiegelt und zur Metrologie-Einheit transportiert werden. Darüber hinaus verfügt das SPCS über eine spezielle Temperaturregelung, die eine temperaturabhängige Wafermessung ermöglicht. KLA P17 asset nutzt fortschrittliche Software zur Bilderfassung, Analyse und Berichterstattung von Waferergebnissen. Diese Software bietet Messungen mit hoher Genauigkeit und bietet eine Reihe von Tools und Ansichten für die Datenanalyse. Darüber hinaus ermöglicht KLA/TENCOR P-17 dem Anwender die einfache Definition benutzerdefinierter Analyse-Suiten und Berichtsformate, was eine schnellere Fehlerbehebung und effizientere Waferanalyse ermöglicht. Um Qualität und genaue Ergebnisse zu gewährleisten, umfasst P17 Modell mehrere Redundanzstufen und eine zuverlässige Datenverwaltungsausrüstung. Dieses System stellt sicher, dass die Gesamtbetriebszeit maximiert und die Wafer-Testergebnisse bei Maschinenausfall sicher gespeichert und gesichert werden. Insgesamt bietet P 17 Werkzeug automatisierte, flexible und genaue Messtechnik für die Waferbearbeitung. Die Kombination aus fortschrittlichen Messtechnologien, Musterverpackungen und -kontrollen, anpassbaren Analysetools und robusten Datenmanagementfunktionen machen TENCOR P-17 zu einem unverzichtbaren Werkzeug für jede Waferbearbeitungsanlage.
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