Gebraucht KLA / TENCOR P2 #293808017 zu verkaufen

ID: 293808017
Profilometer.
KLA/TENCOR P2 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine fortschrittliche Qualitätssicherung für Halbleiterbauelemente durchführt. Es wurde für die Erkennung von Oberflächenfehlern und Fehlerdichten durch fortschrittliche bildgebende und automatisierte Fehlererkennungstechnologie entwickelt. KLA P-2 bietet eine schnelle und genaue Inspektion von Halbleiterscheiben für eine Vielzahl von physikalischen Parametern wie Partikelverschmutzung, Oberflächenfehler und elektrische Shorts. TENCOR P 2 ermöglicht die Erkennung und Charakterisierung von Defekten bei Nanometerauflösung mittels fortschrittlicher Lichtmeß-, Mikroskopie- und Bildgebungstechnologien. Es verwendet ein modernes proprietäres SEM (Rasterelektronenmikroskop), um die höchstmöglichen Auflösungsbilddaten zu erhalten. Das System verwendet auch KI-Algorithmen (künstliche Intelligenz), um kleinere Defekte auf Oberflächen genau zu erkennen. Dies hilft, falsch positive Ergebnisse zu reduzieren und den Identifizierungsprozess zu beschleunigen. P-2 verwendet auch eine proprietäre optische Technologie, OptiFlow genannt, um Wafer während der Waferinspektion optimal zu positionieren, so dass Benutzer den gleichen Waferbereich mehrmals schneller überprüfen und messen können. Das Gerät ist in der Lage, Defekte bis zu 6 Nanometer zu erkennen. Darüber hinaus ist es mit einer einheitlichen Datenanalyseplattform ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, komplexe Daten aus der Maschine zu extrahieren und für weitere Studien analysieren zu lassen. Darüber hinaus umfasst das Tool eine automatisierte Fehlererkennung und -überprüfung, die weitere Überprüfungen der Fehlerklassifizierung und des Vergleichs mit vordefinierten Kriterien ermöglicht. Dies ermöglicht ein schnelles Verständnis, welche Arten von Defekten vorhanden sind, und es können bessere Entscheidungen hinsichtlich der Ertragsverbesserung getroffen werden. KLA/TENCOR P-2 ist ein wesentliches Werkzeug für die Halbleiterscheibenprüfung und -prüfung. Dank der fortschrittlichen Bildgebungstechnologie, der automatisierten Fehlererkennung und der einheitlichen Datenanalysefunktionen erhalten Anwender aussagekräftige quantitative und qualitative Einblicke in ihre Produkte. Seine hohen Auflösungs- und Fehlererkennungsfunktionen fördern das Vertrauen in die Zuverlässigkeit und Qualität des Endprodukts.
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