Gebraucht KLA / TENCOR P2 #9226183 zu verkaufen

KLA/TENCOR P2 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein hochmodernes System, das genaue und konsistente Messungen und Messtechnik von Halbleiterscheiben ermöglicht. Es umfasst eine Vision-Einheit, integrierte Messtechnik und Analysesoftware, automatisierte Kontaktmessung und integrierten Batch-Zyklus-Support. Die Maschine ist ideal für die Prozess- und Qualitätskontrolle, Wafer-Mapping und RMA (Return Merchandise Authorization) Operationen. Das Vision-Tool in KLA P-2 verwendet leistungsstarke Kameras, die für die Aufnahme hochauflösender Bilder über den gesamten Wafer konfiguriert sind. Die Messungen der Anlage sind präzise und wiederholbar, wobei eine minimale Bildausrichtung erforderlich ist. Es kann bis zu 16 Wafer pro Minute für maximalen Durchsatz erfassen und den Start jedes Wafers identifizieren oder volle Ringe in einem Schritt messen. Die integrierte Messtechnik und Analysesoftware des Modells ist effizient und benutzerfreundlich. Es sammelt, speichert und überträgt Daten über den gesamten Prozess. Die Software verfügt über leistungsstarke Datenanalyse-Algorithmen, um Produktionsprozesse zu optimieren und den Ertrag zu verbessern. Darüber hinaus kann es Materialfehler finden und diagnostizieren, Leistung vorhersagen und Metriken auf Batchebene anzeigen. Ein weiteres Schlüsselmerkmal ist die automatisierte Kontaktmessung auf TENCOR P 2. Sein Hochgeschwindigkeits-berührungsloses Scannen kann simultane Messungen auf mehreren Wafern mit einem Scan durchführen. Es ist auch in der Lage, präzise nicht planare Oberflächen zu messen, Brückenmessung an kleinen Merkmalen und schräge Messungen in horizontaler und vertikaler Richtung. Schließlich beinhaltet KLA P2 Wafer Testing and Metrology Equipment integrierten Batch Cycle Support, um die Produktion zu rationalisieren und Abfälle zu minimieren. Dies erleichtert die Automatisierung von Prozessen über mehrere Maschinen hinweg, steuert die Wiederholbarkeit, verwaltet eine Charge von Wafern und verfolgt Teile, die durch jeden Wafer laufen. Insgesamt ist P2 Wafer Testing and Metrology System eine umfassende und zuverlässige Lösung für Halbleiterscheibentests und Messtechnik. Es ist mit anspruchsvoller Vision-Einheit, integrierter Messtechnik und Analysesoftware, automatisierter Kontaktmessung und integriertem Batch-Zyklus-Support ausgestattet, der Organisationen hilft, ihre Anforderungen an Wafer-Tests und Messtechnik zu erfüllen.