Gebraucht KLA / TENCOR P2 #9284967 zu verkaufen

KLA/TENCOR P2 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine vielseitige und umfassende messtechnische Lösung für die automatisierte relative Platzierung, die Ausrichtung von Form zu Datenbank, die Bildprüfung, die Präzisionsmesstechnik sowie die Analyse von Merkmalen, Größe, Form und Orientierung. Dieses System ist für den Einsatz in Produktions- und Forschungsumgebungen in der Halbleiter-, Flachbildschirm- und mikroelektromechanischen Systemindustrie (MEMS) konzipiert. KLA P-2 besteht aus einer Reihe von Komponenten, die zusammenarbeiten, um eine zuverlässige und genaue Prüfung und Messtechnik zu ermöglichen. Es verfügt über eine Area-Array-Kamera und einen mehrachsigen Bewegungscontroller, die beide hochpräzise Ausrichtungs- und Merkmalserkennungsoperationen durchführen. Die Kamera erfasst aktiv die gesamte Oberfläche des Wafers und wandelt die Bilder in digitale Informationen um. Diese Daten werden dann an den Bewegungsregler übertragen, was eine automatisierte Relativanordnung des Wafers zum Layoutmuster ermöglicht. Der Bewegungscontroller richtet das Wafer-Layout auch an einer gespeicherten Datenbank aus und wird zur Erkennung von Fehlern wie verkratzten Flächen und nicht übereinstimmenden KEs verwendet. Darüber hinaus ist TENCOR P 2 mit einer optischen Messtechnik-Einheit integriert, die zur Messung von Größe, Form und Orientierung von Wafermerkmalen dient. Diese Maschine verwendet ein Array von Lasern, um präzise Messungen von verschiedenen Materialien bereitzustellen, einschließlich Filme, Widerstände, Transistoren und physikalische Strukturen. Das Werkzeug ist konfigurierbar und kann angepasst werden, um verschiedene Arten von Formen zu messen, z. B. runde Pfosten oder verjüngte Flächen. Darüber hinaus kann es verwendet werden, um verschiedene Dicken wie Substrat oder Brechungsindex zu messen, und kann sogar über Fremdkörper, die sich auf dem Wafer befinden könnten, messen. KLA/TENCOR P-2 Asset verfügt auch über ein Die-to-Database-Ausrichtungsmodell, das zur Analyse und Erkennung von Fehlern am Wafer während der Produktion verwendet wird. Das Gerät unterstützt sowohl die Front- als auch die Rückseiteninspektion des Wafers und ermöglicht eine automatisierte Vollwafer-Düsenplatzierung. TENCOR P2 bietet auch erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen wie Fehlererkennung, Rauschreduzierung und Farbkorrektur. KLA/TENCOR P 2 ist eine umfassende Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung, die präzise, genaue und automatisierte Tests und Messungen von Waferfunktionen ermöglicht. Es wurde speziell zur Steigerung der Produktionseffizienz und Genauigkeit entwickelt und eignet sich für eine Vielzahl von Branchen, darunter Halbleiter, Flachbildschirme und MEMS.