Gebraucht KLA / TENCOR P20 #293628464 zu verkaufen

KLA/TENCOR P20 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die ein CCD-Bildgebungsgerät verwendet, das mit einem fortschrittlichen Lasermesssystem gekoppelt ist, um Fehler in Halbleitermaterialien zu erkennen. Es ist ein leistungsfähiges Werkzeug zur Prozesssteuerung, Fehleranalyse und Produktionsüberwachung von Wafer-basierten Geräten. KLA- P-20 verfügt über variable Empfindlichkeitseinstellungen, die es ermöglichen, submikrongroße Fehler zu erkennen. Das CCD-Bildgebungsgerät dient zum Scannen der Waferoberfläche. Während sich die Vorrichtung über die Waferoberfläche bewegt, misst der Laserstrahl das von der Waferoberfläche reflektierte reflektierte Licht. Diese aufgezeichneten Daten dienen zur Identifizierung von Oberflächenfehlern und anderen Problemen im Wafer. Die CCD-Bildverarbeitungseinheit ist mit einem hochauflösenden Hochgeschwindigkeits-Scanmotor ausgestattet, der schnelle und genaue Messungen ermöglicht. Die Scangeschwindigkeit ist einstellbar und die maximale Scanzeit beträgt 1 Sekunde. Die Maschine verfügt auch über eine Messdatenbank, die alle Daten aus Inspektionen speichert. Das Tool ist sehr zuverlässig und verfügt über integrierte Funktionen wie einen integrierten Asset-Controller, eine Echtzeit-Prozessüberwachung, programmierbare Fehlermelder und einen automatischen Prüfstandsmodus. Es ist auch mit einer Software integriert, die eine einfach zu bedienende Schnittstelle für Datenanalyse und Berichtsgenerierung bietet. Das Modell TENCOR P 20 ist für den Langzeitbetrieb ausgelegt und kann in der Produktionsumgebung eingesetzt werden. Seine große Kapazität und zuverlässiger Betrieb machen es für die Prozesssteuerung, Fehleranalyse und Produktionsüberwachung von fortschrittlichen Geräten geeignet. Dank seiner fortschrittlichen Diagnose- und Fehlerberichterstattung ist es ideal für die Produktionsüberwachung und Fehlererkennung. Abschließend ist KLA/TENCOR P 20 ein Hochleistungs-Wafer-Prüf- und Messsystem, das eine fortschrittliche Lasermesseinheit und einen hochauflösenden Hochgeschwindigkeits-Scan-Motor umfasst. Es ist ein nützliches Werkzeug zur Prozesssteuerung, Fehleranalyse und Produktionsüberwachung von waferbasierten Geräten.