Gebraucht KLA / TENCOR P2H #9241190 zu verkaufen

KLA/TENCOR P2H ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die automatische, zerstörungsfreie Fehlerinspektion und Dickenanalyse verschiedener integrierter Silizium-Schaltkreise (IC) entwickelt wurde. Dieses fortschrittliche System für Wafertests und Messtechnik nutzt die neuesten Technologien in Hard- und Software. KLA- P-2H können Waferoberflächendefekte automatisch mit hoher Präzision überprüfen und analysieren, einschließlich solcher, die durch Verunreinigungen, Partikel wie Staub und verarbeitungsbasierte Muster verursacht werden. Seine eingebaute optische 3D-Inspektionstechnologie ist in der Lage, Defektmuster auf der Waferoberfläche schnell und präzise zu erkennen und abzubilden, mit einer Auflösung von weniger als 6 Mikron. Das Gerät verwendet auch hochauflösende spektrale Bildgebungs- und Fluoreszenzmessungen, um Kontaminationen auf der Waferoberfläche zu identifizieren und zu messen. Neben der Fehlerinspektion ist TENCOR P 2H in der Lage, die Waferdicke und andere topographische Merkmale wie Kanaltiefen, Musterabstand, Spitzenhöhen und andere zu messen. Es enthält eine patentierte Technologie namens AVI (Achievement of Vertical Integration), die Wafer-Werte schnell und genau analysieren hilft. Das AVI-Toolkit kann eine Reihe von Wafermustern erkennen, die bis zu 25 Mikrometer sagen, um nahezu sofortige präzise Messungen zu erzielen. Mit all diesen Features betreibt KLA P2H ultraschnelle Wafer-Oberflächenprüfung und Messtechnik mit einer bemerkenswert kleinen Stellfläche von weniger als 1 Quadratmeter. KLA P 2H verfügt zudem über eine leistungsstarke Linux-basierte Softwarearchitektur. Es verfügt über eine ausgeklügelte Benutzeroberfläche für eine einfache Bedienung und bietet die vollständige Erfassung und Analyse von Testdaten. Diese anspruchsvolle softwarebasierte Plattform ermöglicht die automatisierte Erstellung von Berichten mit vollständiger Rückverfolgbarkeit und Archivierungsfunktionen. Dies bedeutet, dass ein aufgezeichneter Prüfpfad aller von der Maschine erzeugten Analysedaten zur weiteren Überprüfung und Rückverfolgbarkeit exportiert werden kann. KLA/TENCOR P 2 H ist eine Spitzenlösung für Wafertests und Messtechnik, die IC-Fertigungsprozesse vorantreibt. Es bietet hochpräzise, zerstörungsfreie Inspektionen und Gleichmäßigkeitsanalysen von Wafern mit einem bemerkenswert kleinen Platzbedarf und einer fortschrittlichen softwarebasierten Steuerungsplattform für Datenarchivierung und Rückverfolgbarkeit. KLA/TENCOR P 2H ist ein unverzichtbares Werkzeug für moderne IC-Hersteller.