Gebraucht KLA / TENCOR P2H #9408171 zu verkaufen

KLA/TENCOR P2H ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die speziell entwickelt wurde, um den Ertrag und den Produktionsdurchsatz in der Halbleiterindustrie zu verbessern. Es verwendet einen dreidimensionalen automatisierten visuellen Inspektionsprozess, um mögliche Herstellungsprobleme auf einer Substratoberfläche zu erkennen. Dies ermöglicht eine schnelle Erkennung und Korrektur von Defekten am aktuellen Wafer sowie Trends zur Gesamtproduktion. Die automatisierte Mikroskop-Bildgebungseinheit von KLA P-2H kann das Profil von Strukturen und Defekten auf einem Wafer abbilden und messen. Durch die Erfassung detaillierter Informationen zu den Strukturen und Defekten können Wafer-Ingenieure Anomalien schnell erkennen, analysieren und berichten. Die Maschine ermöglicht es Ingenieuren auch, mehrere Inspektionsbilder desselben Wafers anzuzeigen, indem sie die Integration mit anderer verfügbarer Software ermöglicht, die eine einzige Datenquelle bereitstellen kann. Es bietet auch verschiedene benutzerdefinierte Analyse-Tools, sowie interaktive grafische Anzeigen und Berichte. Die automatisierte Messsoftware für das TENCOR P 2H Tool ist darauf ausgelegt, seine Bilder schnell zu messen und zu analysieren. Seine automatische Bildverarbeitungsanlage lernt und passt sich Änderungen im Substrat des Wafers an, wodurch die Inspektionszeit reduziert und die Genauigkeit verbessert wird. Die Betriebssoftware bietet auch eine Reihe von Fehlererkennungsoptionen, einschließlich Template Matching, Hot Pixel Matching, Räumliche Bemaßungseinstellung und Hintergrundschätzung. Diese Palette von Optionen ermöglicht die genaue Erkennung und Klassifizierung von subtilen Defekten. P 2H-Modell bietet auch datengesteuerte Tests und Analysen, die die Qualität der Prozessorherstellung messen und verfolgen. Mit diesen erweiterten Funktionen kann die Ausrüstung Prozessverbesserungen identifizieren, Ertragseinbrüche messen und Abfälle reduzieren, die durch Prozessablauf und -design entstehen. Darüber hinaus umfasst es die Datenverbindung, die die gemeinsame Nutzung von Wafer-Testdaten und anderen Produktionsnummern mit anderen Systemen in einer Fabrik ermöglicht. Insgesamt ist KLA P2H ein umfassendes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das ein hohes Maß an Leistung, Genauigkeit und Zuverlässigkeit bietet. Der automatisierte dreidimensionale Inspektionsprozess und das umfassende Leistungsspektrum bieten Herstellern die Möglichkeit, die Qualität zu verbessern, Kosten zu senken und den Produktionsdurchsatz zu erhöhen.