Gebraucht KLA / TENCOR PHX DF 5.0 #293660076 zu verkaufen

KLA PHX DF 5.0 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für Hochtreue-Ergebnisse in der Halbleiterherstellung entwickelt wurde. Dieses System wurde entwickelt, um einige der höchsten Auflösungs- und Genauigkeitsstufen auf dem Markt bereitzustellen. TENCOR PHX DF 5.0 nutzt eine Multi-Kamera-Bildgebungsarchitektur. Diese zusammengesetzte bildgebende Einheit kombiniert Hochgeschwindigkeitskameras und empfindliche CCD-Chips, um ein vollständiges bildgebendes Sichtfeld über den gesamten Wafer zu ermöglichen. Die Hochgeschwindigkeitskameras ermöglichen hohe Bildraten über den gesamten Wafer für präzise und detaillierte Inspektion und Messtechnik. Darüber hinaus verfügt KLA/TENCOR PHX DF 5.0 über fortschrittliche Beleuchtungs- und Beleuchtungssysteme, die scharfe und kontrastreiche Bilder ermöglichen. Diese Präzision ist ideal für fortgeschrittene Messungen kritischer Abmessungen (CD) und Fehlercharakterisierung. Darüber hinaus verfügt die Maschine über ein hochmodernes automatisiertes Werkzeug für einen effizienten Betrieb. Zu diesem Asset gehören die neuesten anspruchsvollen Algorithmen zur Mustererkennung und Bildverarbeitung, die eine hochauflösende automatisierte Waferinspektion ermöglichen. Das automatisierte Modell in Kombination mit schneller Bildgebung bietet überlegene Fehlererkennungsfunktionen. Die Geräte können mit herkömmlichen Inspektionsmethoden sehr kleine, schwer zu erkennende Mängel erkennen. Darüber hinaus verfügt das System über integrierte Prozessleitsysteme, die bei Bedarf Prozessoptimierungen und schnelle Korrekturmaßnahmen ermöglichen. KLA PHX DF 5.0 ist auch mit fortschrittlichen Charakterisierungsalgorithmen ausgestattet, die eine genaue und detaillierte Klassifizierung von Fehlern ermöglichen. Diese Einheit ermöglicht flexible Parametereinstellungen, die eine gründliche Charakterisierung und Analyse selbst der komplexesten Wafer ermöglichen. Es verfügt auch über integrierte messtechnische Fähigkeiten, die präzise 3D-Topographiemessungen ermöglichen. Zusätzlich verfügt die Maschine über ein In-situ-Analysemodul, das eine Echtzeit-Charakterisierung von Waferdefekten ermöglicht. Insgesamt ist TENCOR PHX DF 5.0 ein leistungsfähiges und robustes Wafer-Test- und Metrologie-Tool, das präzise und treue Ergebnisse liefert. Mit seinen fortschrittlichen Imaging-, Automatisierungs- und Messtechnik-Funktionen ist das Asset in der Lage, Wafer-Inspektionen schnell, zuverlässig und hochauflösend zu überprüfen und maximale Prozesskontrolle und Optimierung zu ermöglichen.