Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 6420 Surfscan #9133277 zu verkaufen

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ID: 9133277
Measurement system, CPU Board, 200Mhz.
KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan ist eine hochentwickelte, multianwendende Wafer-Prüf- und Messtechnik. Seine ausgeklügelte Softwareumgebung und seine umfassende Hardwareplattform machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für Produktionsumgebungen in einer Vielzahl von Branchen. Es wurde speziell entwickelt, um die Zuverlässigkeit und Vorhersehbarkeit von Wafer-Tests und Metrologie-Aktivitäten zu erhöhen und gleichzeitig die Kosten zu senken und wichtige Erkenntnisse aufzudecken. KLA 6420 Surfscan verwendet ein einzigartiges Optical CD Metrology (OCM) Scanning System für präzise Messungen von beiden Linienbreiten sowie CD (critical dimension) -Werten. Es ist mit einer automatisierten, nicht aufdringlichen Probenphase „Lights-Out“ -Funktion ausgestattet, die es dem Gerät ermöglicht, vollständige Waferoberflächeninspektionen und detaillierte Analyse von Mikrostrukturen für Kunden genau durchzuführen. Die Maschine ist in der Lage, 2-Achsen-Neigungskompensation, entscheidend für die Sondierung und Abbildung von hochplanaren Strukturen. TENCOR 6420 Surfscan ist auch mit modernsten Softwarefunktionen ausgestattet und steigert die Leistung seiner Hardware. Es ist in der Lage, verschiedene Arten von Hochgeschwindigkeitsspektren zu erfassen und zu analysieren, einschließlich niedriger und voller Auflösung (1GHz/6GHz), und führt auch eine ganze Reihe von Fehlerinspektionen durch, wie TTV, Mess- und Prozesskontrollbewertungen. Seine Software basiert auf einer benutzerfreundlichen Oberfläche, mit der Absicht, Benutzerfehler zu reduzieren und die Gesamteffizienz zu verbessern. PROMETRIX 6420 Surfscan umfasst auch softwaredefinierte Reinraumfunktionen und bietet Kunden volle Rückverfolgbarkeit über eine Reihe von hochladbaren Datensätzen auf Chrombasis. Mit korrekter Kalibrierung ist es in der Lage, hochgenaue Messungen so niedrig wie 2nm. Ausgestattet mit Advanced Particle Imaging and Counting (PIC) -Funktionalität, kann es auch Daten von Wafern und Reticles in trockenen und nassen Prozessen erfassen. Insgesamt repräsentiert 6420 Surfscan die neuesten Fortschritte bei Wafer-Test- und Messtechnik-Systemen. Von seinem ausgeklügelten optischen CD-Messtechnik-Tool bis hin zu seinen umfassenden Software-Funktionen bietet diese Ressource genaue Tests, eine breite Palette von umfangreichen Funktionen und zuverlässige, kosteneffiziente Fertigung.
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