Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 6420 Surfscan #9248616 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wurde entwickelt, um verschiedene Eigenschaften auf Halbleitermaterialien bis zu 6-Zoll-Wafern zu messen und zu analysieren. KLA 6420 Surfscan ist mit einem hochauflösenden optischen Mikroskop und einem Raumfilter ausgestattet. Das Mikroskop wurde speziell entwickelt, um eine dreidimensionale Analyse von Halbleitermerkmalen einschließlich Fehlererkennung und -messung zu ermöglichen. TENCOR 6420 Surfscan ist zudem mit einem hochgenauen optischen Encoder ausgestattet, der eine präzise Messung der Oberflächentopographie ermöglicht. Mit einem zusätzlichen Laserbeugungsansatz kann das System verschiedene Facetten des Wafers messen, wie Schichtdicke, Profilwinkel und Korngrößenverteilungen. Darüber hinaus kann PROMETRIX 6420 Surfscan sowohl an manuelle als auch an automatisierte Probenhandhabungssysteme angeschlossen werden. Es kann verwendet werden, um Wafer jeder Form und Größe wie Kreise, Rechtecke und Quadrate zu analysieren. Darüber hinaus kann die Einheit eine Vielzahl von Berichten in Form von Grafiken sowie dreidimensionale Bilder der Waferoberfläche erzeugen. 6420 Surfscan ist für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, die die Analyse der Wafereigenschaften erfordern. Es wird verwendet, um neue Wafer zu inspizieren und die Qualität von Ätzprozessen zu bewerten. Es wird auch verwendet, um die Dicke von Kupfermetallschichten zu messen, um mögliche Defekte zu identifizieren. Darüber hinaus kann die Maschine zur Analyse der kristallinen Eigenschaften von Waferoberflächen wie Planheit und Rauheit eingesetzt werden. KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan ist ein zuverlässiges und effizientes Werkzeug zur Waferinspektion und Charakterisierung. Es ist benutzerfreundlich und mit verschiedenen Betriebssystemen wie Windows, Mac OS und Linux kompatibel. Die Anlage ist ideal für Labore, Hochschulen und Industrien, die zuverlässige und genaue Testergebnisse benötigen.