Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 6420 Surfscan #9287171 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wurde entwickelt, um eine genaue und zuverlässige Oberflächenmessung einer Vielzahl von Wafern zu ermöglichen, einschließlich Galliumarsenid, Indiumphosphid und Silizium-on-Isolator. KLA 6420 Surfscan kombiniert fortschrittliche Optik mit fortschrittlicher Elektronik und Bewegungssteuerung, um ein hochpräzises, zerstörungsfreies optisches System zur Messung der Oberflächentopologie, der Merkmalsgröße und des Oberflächenprofils zu erzeugen. TENCOR 6420 Surfscan ist mit einem chromatischen konfokalen Sensor ausgestattet, der einen 532 Nanometer (nm) Laser verwendet, um hochauflösende Bilder bereitzustellen. Die Kombination von Laser und Sensor erzeugt ein hochgenaues dreidimensionales Bild der Oberfläche des Wafers. Dieses Bild dient als Grundlage für präzise Flächenmessungen, die KE-Größe, -Tiefe und -Rauhigkeit umfassen. PROMETRIX 6420 Surfscan verfügt auch über eine anpassbare Software-Suite, mit der Benutzer Testparameter für präzise Wafermessungen konfigurieren können. Dies macht es einfach, die Testanforderungen des Benutzers zu optimieren und die genauesten Ergebnisse zu erzielen. Die Software verfügt über eine Auswahl an vorinstallierten Einstellungen sowie eine Reihe erweiterter Funktionen, mit denen Benutzer die Tests an bestimmte Anforderungen anpassen können. Das Gerät kommt auch mit einer integrierten Umweltkontrollmaschine, die hilft, eine konsistente Temperatur und Luftfeuchtigkeit in der Testumgebung zu halten. Dadurch wird die Genauigkeit der Ergebnisse unabhängig von den Umgebungsbedingungen gewährleistet. Darüber hinaus verfügt 6420 Surfscan auch über eine hohe Genauigkeit lineare Cross-Slide-Bühne, die Wafer von bis zu 12 Zoll Durchmesser aufnehmen kann. KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan ist ein hochentwickeltes Tool für Wafertests und Messtechnik, das eine Vielzahl von Funktionen und Vorteilen bietet. Die leistungsstarke Software, die hochgenaue bildgebende Ausstattung und das integrierte Umweltkontrollmodell machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug zur genauen und zuverlässigen Messung von Waferoberflächen.