Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 7200 Surfscan #9016550 zu verkaufen
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ID: 9016550
Weinlese: 1992
Patterned wafer inspection system
Model no. 194450
115 V, 2 phase, 60 Hz, 6 A
1992 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX 7200 Surfscan ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die die Eigenschaften von Wafern mit hoher Präzision und Genauigkeit misst. Dieses System wurde entwickelt, um mögliche Fehler in den Wafern auf Nanometerebene zu erkennen und dann genau und schnell zu diagnostizieren. Mit seiner High-End-Optik, dem fortschrittlichen Algorithmus und der neu entwickelten Software ist die Surfscan-Einheit KLA 7200 in der Lage, die Oberflächentopographie des Wafers zu inspizieren und zu messen, ohne dessen Integrität zu beeinträchtigen. TENCOR 7200 Surfscan-Maschine verfügt über ein hochpräzises faserbasiertes Interferometer, kinematische Probenausrichtstufen, Roboterhandlingmodule und ein integriertes Qualitätsmanagementwerkzeug. Dieses Interferometer verwendet fortschrittliche Echtzeit-Datenerfassungstechniken, um unglaublich präzise Messungen in drei Dimensionen zu ermöglichen. Seine kinematischen Stufen sind so konzipiert, dass sie maximale Genauigkeit und glatte Bewegung für den Wafer bei Messungen bieten. Die Roboter-Handhabungsmodule können den Wafer in zwei Achsen drehen und dann genau in den Probenaufgabebereich verschieben, während das integrierte Qualitätsmanagement die Kontrolle über den Inspektionsprozess ermöglicht. PROMETRIX 7200 Surfscan enthält auch ein hochentwickeltes Softwarepaket zur Messung optischer Modelle. Diese Software hat die Fähigkeit, eine breite Palette von Parametern aus den Messdaten zu berechnen, einschließlich Oberflächenrauhigkeit, Schritthöhe, Tiefe und Winkelmessungen. Es ist auch in der Lage, 3D-Bildgebung durchzuführen, die eine detaillierte Analyse der Oberflächentopographie eines gesamten Wafers auf einmal ermöglicht. Diese Software ist benutzerfreundlich und bietet Benutzern die Möglichkeit, die Analyseergebnisse schnell und einfach zu verstehen. Insgesamt 7200 Surfscan Wafer Test und Metrologie Modell ist eine hochentwickelte Ausrüstung entwickelt, um Wafer mit höchster Präzision und Genauigkeit zu inspizieren und zu messen. Es verfügt über modernste Optik, Roboterbehandlungsmodule und Software, die es zu einem der leistungsfähigsten Wafer-Inspektionssysteme machen, die derzeit auf dem Markt verfügbar sind.
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