Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #293594317 zu verkaufen

KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan
ID: 293594317
Wafergröße: 2"-8"
Particle inspection systems, 2"-8".
KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine schnelle, genaue und effiziente Prüfung von Waferoberflächen ermöglicht. Es wurde entwickelt, um auch kleinere Unvollkommenheiten und Auffälligkeiten auf Waferoberflächen zu erkennen und liefert detaillierte und zuverlässige Einblicke in die Produktionsqualität des Wafers. Der Surfscan 7600 verfügt über eine berührungslose Messfähigkeit, die eine zerstörungsfreie Oberflächendefektanalyse ermöglicht, was zu einer hocheffizienten Probenbearbeitung führt. Das System nutzt die branchenführende Surfscan 7500-Softwareplattform, um schnelle, pixelgenaue Messungen einer Vielzahl von Oberflächeneigenschaften wie Schritthöhe, Oberflächenrauhigkeit, Welligkeit und Profilmessungen bereitzustellen. Die mitgelieferte CCD Optical Profile and Pitch Measurement Unit bietet schnelle und präzise Messungen bei extrem hoher Auflösung, wodurch selbst mikroskopische Defekte erkannt werden können. Die skalierbare Mikroskopie der Maschine verbessert die Präzision der Messungen weiter und ermöglicht eine visuelle Inspektion und Überprüfung ohne manuelle Eingabe. Das Tool ist auch mit KLA Wafer Map Reporter ausgestattet, die Echtzeit-Anzeige von Fehlerposition und Typ bietet. Dies ermöglicht eine schnellere Analyse und minimiert Dateneingabefehler. Darüber hinaus ermöglicht der integrierte Defect Map Editor (DME) die automatisierte Erstellung von Defektkarten und Mikroskopschiebern zur weiteren Analyse und genauen Zusammensetzung von Fehlerzählungen. Darüber hinaus verfügt das Asset über eine automatische Korrelation zwischen Fehlerstellen und chemischer Zusammensetzung. Dies hilft, falsche Defekte von echten Defekten zu trennen und liefert einen chemischen Fingerabdruck für die Oberfläche. Dies gewährleistet eine höhere Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Ergebnisse. KLA 7600 Surfscan ist ein leistungsstarkes Wafer-Test- und Metrologiemodell, das ideal für den Einsatz in jeder Wafer-Produktionsumgebung geeignet ist. Die Kombination aus integrierter Hard- und Software, Genauigkeit und Geschwindigkeit, Skalierbarkeit und automatisierter Fehleranalyse macht es zu einer bevorzugten Wahl für Fachleute in der Halbleiterindustrie.
Es liegen noch keine Bewertungen vor