Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #9011095 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan ist eine Hochgeschwindigkeits-automatisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für die Halbleiterindustrie. Es ist in der Lage, genaue, wiederholbare messtechnische Messungen an zahlreichen verschiedenen Arten von Teststrukturen bereitzustellen. Der SurfScan 7600 führt sowohl Oberflächenrauhigkeits- als auch kritische Maßmessungen durch und ermöglicht eine genauere Fehleranalyse und -charakterisierung. Der SurfScan 7600 wurde speziell für die Anforderungen der dynamischen Halbleiterproduktionsumgebung entwickelt. Es verfügt über die höchste Betriebsgeschwindigkeit und den Durchsatz jedes Surfscan-Wafersystems. Mit der fortschrittlichen optischen Einheit und der automatisierten Bewegungsplattform kann die Maschine Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm schnell messen und analysieren. Es unterstützt auch eine Vielzahl von Substraten, einschließlich Silizium, Galliumarsenid und Silizium-auf-Isolator. Der SurfScan 7600 enthält auch eine Reihe fortschrittlicher Technologien, die eine genaue und präzise Messtechnik gewährleisten sollen. Es verfügt über fortschrittliche Laserinterferometrie, Lichtblechbildgebung und automatisierte Waferausrichtung. Die patentierten Algorithmen für kritische Dimensionen sorgen für genaue Ergebnisse und enge Verteilungsgrenzen. Der SurfScan 7600 bietet ein dediziertes Submikron-Sonden-Tool, das in der Lage ist, bis zu einer Auflösung von 50 nm zu sondieren. Es enthält auch eine Vielzahl von Softwarepaketen, mit denen Benutzer den Mess- und Analyseprozess optimieren und optimieren können. Darüber hinaus bietet das Asset Echtzeit-Prozess- und Ergebnisüberwachung sowie Zugriff auf webfähige Daten. Der SurfScan 7600 ist das bevorzugte Wafer-Test- und Metrologiemodell für Halbleitergewebe und Forschungslabore. Seine beispiellose Geschwindigkeit und Genauigkeit machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug in der heutigen wettbewerbsfähigen Halbleiterumgebung. Es ist auch sehr zuverlässig und kostengünstig, so dass es die perfekte Wahl für jede Halbleiter-Qualitätskontrolle und Metrologie-Anwendung.