Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #9073508 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 9073508
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1993
Particle inspection system, 8" 1993 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan-System ist ein Wafer-Prüf- und Messtechnik-Gerät zur Sondierung und Oberflächencharakterisierung kleiner elektronischer Strukturen. Es liefert detaillierte Daten zur Überwachung des Herstellungsprozesses, was für die effiziente und zuverlässige Produktion moderner elektronischer Geräte entscheidend ist. KLA 7600 Surfscan besteht aus drei Hauptkomponenten; die Analyzer Station, die Optical Metrology Station und die Wafer Chuck Stage. Die Analyzer Station besteht aus zwei Oberflächen Messköpfen - der aktive Kopf, verantwortlich für Dual-Channel-elektrische Messungen, und der passive Kopf, verwendet, um Foliendicke statt elektrische Eigenschaften zu messen. Die Optical Metrology Station dient zur Messung der Oberflächentopographie, wodurch Muster mit hoher Auflösung ausgewertet und optimiert werden können. Die Wafer Chuck Stage ist eine zusätzliche Komponente, die eine präzise Platzierung und Ausrichtung des Wafers sowie einen Kontakt zwischen Deckel und Substrat gewährleistet. TENCOR 7600 Surfscan verfügt auch über eine Reihe weiterer Komponenten. Dazu gehören das Hochfrequenz-Bogenwiderstandsmodul, die TTV-Analyse und Automatisierungswerkzeuge sowie die optische Partikelinspektion und die sekundäre Ionenmassenspektrometrie. Der hochfrequente Flächenwiderstand misst den Flächenwiderstand von Dünnschichtschichten, der zur Optimierung elektrischer Eigenschaften verwendet werden kann. Das Modul TTV-Analyse bietet unterdessen detaillierte Ansichten der Oberflächentopographie über mehrere Wafer hinweg und entwickelt einen schnelleren und effizienteren Prozess für den Wafer-zu-Wafer-Vergleich. Automatisierungswerkzeuge ermöglichen das Laden mehrerer Analyse- und Charakterisierungsmuster, während die optische Partikelinspektion Partikelzahlen des Wafers liefert. Schließlich trennt sekundäre Ionenmassenspektrometrie Atome und Moleküle nach Masse für eine einfache und effektive Kontaminationsanalyse. Das Surfscan-System PROMETRIX 7600 bietet eine umfassende und qualitativ hochwertige Lösung für eine Vielzahl von Anforderungen an Wafertests und Messtechnik. Mit der erhöhten Genauigkeit und Automatisierungsfähigkeit des Geräts hat es sich als ideale Lösung zur Erkennung von Defekten in der modernen Elektronik erwiesen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor