Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #9226703 zu verkaufen

KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan
ID: 9226703
Wafergröße: 6"-8"
Particle inspection systems, 6"-8".
KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die weitgehend im Halbleiterherstellungsprozess eingesetzt wird. Es bietet eine schnelle, zerstörungsfreie Analyse der optischen, elektrischen und mechanischen Eigenschaften von Materialien. KLA 7600 Surfscan besteht aus einer komplexen Kombination von optischen und elektrischen Messfähigkeiten, die eine genaue Analyse einer Vielzahl von Materialien ermöglicht. Das System ist mit einem Wafer Handler und einem Laserstrahl ausgestattet, der verwendet wird, um die Höhe von Unregelmäßigkeiten auf der Waferoberfläche zu messen. Darüber hinaus ist TENCOR 7600 Surfscan mit Weißlicht-Interferometrie ausgestattet, die Interferenzmuster von Lichtquellen verwendet, um die Oberflächenrauhigkeit, Ebenheit und Defekttiefe genau zu messen. Schließlich sind auch spezialisierte Detektoren in der Einheit enthalten, um elektrische Eigenschaften des Materials zu messen, einschließlich Flächenwiderstand und Trägerbeweglichkeit. 7600 Surfscan wird im Halbleiterherstellungsprozess verwendet, um die Qualität der Materialien sicherzustellen. Durch die Messung von Wafer-Oberflächenunregelmäßigkeiten können Hersteller Fehler genauer identifizieren und die Anzahl der produzierten nicht betriebsfähigen Chips minimieren. Darüber hinaus kann PROMETRIX 7600 Surfscan zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Materialien verwendet werden, um sicherzustellen, dass die Geräte vor dem Produktionseingang ordnungsgemäß funktionieren. KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die Halbleiterherstellern wertvolle Informationen zur Sicherstellung der Qualität ihrer Materialien liefert. Durch den Einsatz zerstörungsfreier Analysetechniken ist es in der Lage, Oberflächenunregelmäßigkeiten und elektrische Eigenschaften von Materialien genau zu messen, ohne einen der Wafer zu verlieren. Darüber hinaus hilft sein schneller Betrieb Halbleiterherstellern, Ressourcen zu sparen und Defekte während des Produktionsprozesses zu minimieren.
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