Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX AIT I #9139695 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I ist eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für genaue und zuverlässige Wafermessungen entwickelt wurde. Das System ist in der Lage, zerstörungsfreie Tests und Messungen sowohl dünner als auch dicker Wafer mit minimalem Aufwand durchzuführen. Das Gerät verwendet fortschrittliche Techniken und Algorithmen, um Fehler zu erkennen und zu identifizieren, die von Oberflächenmerkmalen und Mikrofehlern bis hin zu kristallographischen Defekten reichen. Es enthält auch eine Reihe von integrierten Software-Tools für die Analyse und Berichterstattung Wafer Testergebnisse. Kern der Maschine ist das patentierte KLA Automated Inspection Tool (TENCOR AIT), das speziell für Wafertests und Messtechnik entwickelt wurde. PROMETRIX AIT verwendet differentielle Bildgebungstechniken, um Oberflächenmerkmale auf eine Genauigkeit von 3 nm abzubilden, und seine integrierten erweiterten Algorithmen können selbst kleinste Fehler erkennen und identifizieren. Das Tool integriert auch fortschrittliche Algorithmen für die automatisierte optische Messtechnik, die eine schnelle und genaue Messung der Form und Dicke des Wafers ermöglichen. Das Asset verfügt außerdem über das KLA/TENCOR/PROMETRIX Micro Imaging Program (TMIP), das eine benutzerfreundliche Benutzeroberfläche für die Durchführung von Wafertests bietet. Mit TMIP können Benutzer benutzerdefinierte Fehlererkennungsprogramme erstellen, die auf die spezifischen Anforderungen ihrer spezifischen Wafer-Testanwendung zugeschnitten werden können. Diese benutzerdefinierten Programme können dann automatisch auf KLA AIT ausgeführt werden, so dass schnelle und konsistente Wafertests mit minimalem Benutzereingriff möglich sind. Das TENCOR AIT-Modell ergänzt die TMIP-Benutzeroberfläche um eine Reihe fortschrittlicher statistischer Analysetools. Das Gerät enthält eine integrierte Histogramm-Engine, die leistungsstarke Trendanalysen und statistische Berichte generieren kann. Diese Berichte erlauben detaillierte Rückschlüsse auf das Auftreten von Defekten wie Partikeldichte oder Fehleruniformität auf der Waferoberfläche. KLA AIT I ist ideal für eine Reihe von Wafertest- und messtechnischen Anwendungen wie Halbleiterbauelementfertigung, Photolithographie und Ätzen. Das System ist in der Lage, extrem genaue Ergebnisse mit minimalem Eingriff des Bedieners zu liefern, was es zu einem unschätzbaren Werkzeug bei der Herstellung von hochwertigen Wafern macht.