Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX FT-650 #293646045 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX FT-650 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die in der Halbleiterindustrie weit verbreitet ist. KLA FT-650 verfügt über innovative optische Bildgebungsfunktionen, die schnelle, berührungslose Messungen unterschiedlichster metrischer Werte innerhalb eines einzigen Produktscans ermöglichen. Die Systeme ermöglichen eine schnelle und genaue Prüfung und Charakterisierung von Halbleiterverbindungsmaterialien, dielektrischen Filmen, Filmen mit Pinholes, metallischen Filmen und anderen Dünnschichtmaterialien auf beliebigen Substraten. TENCOR FT-650 bietet mehrere erweiterte Funktionen zur Optimierung der Wafertests, darunter mehrstufige Bezüge, optisches Multiplexen, berührungslose mehrkanalige Topographiemessung und automatisierte Mustererkennung. Darüber hinaus ermöglicht der optische Aufbau FT-650 Systems die gleichzeitige Messung mehrerer Wafer an verschiedenen Stellen der Einheit. PROMETRIX FT-650 verwendet hochentwickelte 3D-optische Mikroskopiesysteme, um verschiedene mikroskopische Merkmale auf dem Substrat zu messen und zu analysieren. Die von KLA/TENCOR/PROMETRIX FT-650 erzeugten 3D-optischen Bilder können durch die integrierten erweiterten Mustererkennungsfunktionen der Software weiter analysiert werden. Diese Funktion ermöglicht eine außergewöhnlich schnelle und genaue Identifizierung und Klassifizierung von Wafern. Die hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Maschine machen sie für Dünnschicht-Messtechnik-Anwendungen geeignet. KLA FT-650 ist ideal für Dünnschichtmesstechnik-Anwendungen wie Dünnschichtcharakterisierung, Wafer-Warpage-Messung, Filmdickenmessung und Gerätecharakterisierung. Mit seinen hochauflösenden Bildern ermöglicht TENCOR FT-650 den Anwendern die genaue Identifizierung und Charakterisierung winziger Merkmale auf dem Substrat. FT-650 Datenausgabe des Asset ist benutzerfreundlich und kompatibel mit verschiedenen Branchenstandard-Formaten. PROMETRIX FT-650 bietet Benutzern die Möglichkeit, zeitgestempelte Daten für eine spätere Überprüfung oder für die Integration in Messtechnik-Softwarepakete von Drittanbietern zu exportieren. Die gesammelten Daten können zur weiteren Analyse oder in nachgeschalteten Produktentwicklungsprozessen wie Failure Analysis (FA) oder Yield Improvement (YS) verwendet werden. Insgesamt ist KLA/TENCOR/PROMETRIX FT-650 ein fortschrittliches Wafertest- und Metrologiemodell, das schnelle und genaue Messungen innerhalb eines einzelnen Produktscans ermöglicht. Mit fortschrittlichen Funktionen wie 3D-optischen Mikroskopiesystemen, automatisierter Mustererkennung und Datenausgabekompatibilität mit Industriestandard-Formaten ist KLA FT-650 ein unschätzbares Werkzeug für Dünnschichtanwendungen und -analysen.