Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75/TCA #9260211 zu verkaufen

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ID: 9260211
Weinlese: 2006
Resistivity mapping system 2006 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75/TCA ist ein High-End-Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung entwickelt, um die strengen Anforderungen der Halbleiterindustrie zu erfüllen. Dieses fortschrittliche System bietet schnelle, präzise und wiederholbare Wafer-Level-Tests und Messtechnik-Services für bis zu 10 "Wafer-Artikel bei geringeren und höheren Produktionslasten. Es verwendet ein modernes optisches Design, um verschiedene Oberflächenmerkmale und Defekte genau zu messen und abzubilden. Das Gerät verfügt über mehrere Module, die einzigartig für die Waferanalyse entwickelt wurden, wie die RS-75 Wafer Mapping Machine, das TCA Mapping Tool und KLA Omnimap. Das RS-75 ist speziell für die Unterscheidung/Kartierung von Wafern, die Stempelprüfung und das robotergestützte automatisierte Be- und Entladen konzipiert. Es verfügt über einen präzise gefertigten linearen Encoder, der berührungslose, präzise Positionsgenauigkeit bietet. Das TCA Mapping Asset ermöglicht die Mustererkennung für die Form-zu-Form-Ausrichtung auf RS-75 Wafern und verfügt über ein quantitatives Analysemodell zur korrekten Fehlererkennung und -angriff. TENCOR Omnimap hingegen optimiert die Fehlerinspektion und -analyse sowohl auf Wafer- als auch auf Unterdüsenebene und kann mehrere Arten von Defekten wie Hügellösungen, Entlastungsmusterdefekte und kleine Blotches erkennen. Das Gerät ist auch mit einer umfassenden Suite von Hardware und Software für Tests und Messtechnik ausgestattet. Dazu gehören Programmiersysteme zur Erstellung von Prozessplänen für die Analyse, ein hochauflösender Abbildungskopf, der die Erfassung hochauflösender Bilder erleichtert, und eine Bibliothek mit Datenerfassungs- und Analysetools zum Exportieren und Anzeigen von Berichten. Insgesamt ist die KLA Omnimap RS-75/TCA eine ausgezeichnete Wahl für automatisierte Wafertests und Messtechnik, da sie eine Reihe von Funktionen bietet, um umfassende Tests und Analysen von Wafern anzubieten. Es gewährleistet eine optimale Genauigkeit und Wiederholbarkeit mit einem umfassenden Angebot an Hard- und Software und einer robusten Datenanalyse.
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